高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測

Author(s)

• 宇宙航空研究開発機構 ウチュウ コウクウ ケンキュウ カイハツ キコウ
• 芳仲敏成 ヨシナカ, トシナリ

Bibliographic Information

高純度CVD-SiC静的加熱試験時の温度分布計測

宇宙航空研究開発機構編 ; 芳仲敏成, 総合技術研究本部システム評価技術グループ[著]

（宇宙航空研究開発機構研究開発資料, JAXA-RM-03-012）

宇宙航空研究開発機構, 2004.3

Other Title

Temperature measurements for the CVD-Sic static heating tests

Title Transcription

コウジュンド CVD-SiC セイテキ カネツ シケンジ ノ オンド ブンプ ケイソク

Details

• NCID: BA70459021
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 調布
• Pages/Volumes: 34p
• Size: 30cm
• Classification:
  • NDLC : Y251
• Parent Bibliography ID:
  • BA69053154