固体表面キャラクタリゼーションの実際 : ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
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固体表面キャラクタリゼーションの実際 : ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
講談社, 2005.2
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ナノ材料に利用するスペクトロスコピー固体表面キャラクタリゼーションの実際
- Title Transcription
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コタイ ヒョウメン キャラクタリゼーション ノ ジッサイ : ナノ ザイリョウ ニ リヨウ スル スペクトロスコピー
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Faculty of Textile Science and Technology Library, Shinshu University図
433.57:Ko 912810210332,2810233821
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参考文献: 章末
Description and Table of Contents
Description
何が測定でき、何がわかるか?この疑問に答えるナノテク研究者必携のコンパクトな入門書!ナノ材料の表面構造と物性を観察・評価するために、不可欠なスペクトロスコピーの測定技術と解釈方法をそれぞれの専門家がやさしく解説。光触媒、カーボンナノチューブ、燃料電池材料などの先端材料のキャラクタリゼーションが一目でわかる。
Table of Contents
- 固体表面・固体材料のキャラクタリゼーション
- X線一般・XRD(X線回折)
- XPS(X線光電子分光)
- XAFS(X線吸収微細構造)
- UV/VIS(紫外/可視)・PLS(光ルミネセンス)
- IR(赤外)・Raman(ラマン)分光法
- ESR(電子スピン共鳴)
- NMR(核磁気共鳴)
- TEM(透過電子顕微鏡)・SEM(走査電子顕微鏡)
- STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)
- 昇温スペクトル
- MS(質量分析)・SIMS(二次イオン金属分析)
- CV(サイクリックボルタンメトリー)
- 「目で学ぶ」ケーススタディー
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