新TOEICテスト一発で正解がわかる

書誌事項

新TOEICテスト一発で正解がわかる

キム・デギュン著

[旺文社], [2006.1]-

  • [正編]
  • 基礎編

タイトル別名

新TOEICテスト一発で正解がわかる

タイトル読み

シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル

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注記

出版事項はジャケットによる

[正編]: 付属資料: (録音ディスク1枚 : ディジタル ; 12cm)

基礎編: 付属資料: (録音ディスク2枚 : ディジタル ; 12cm)

基礎編: 付: (別冊63p) : 解答・解説

内容説明・目次

巻冊次

[正編] ISBN 9784010934906

内容説明

PART別に「問題のパターン」を挙げ、正解を一発で導き出すための攻略法を詳しく解説しています。スコアアップに欠かせない語彙力を養うために、各PARTで頻出する単熟語約1,500語が収録されています。新TOEICの問題形式と内容に完璧にあった模擬テスト200問が巻末に収録されています。付属の音声CDには、アメリカ・イギリス・カナダ・オーストラリアのネイティブのナレーションが吹き込まれています。
巻冊次

基礎編 ISBN 9784010940815

内容説明

この本は、TOEICが新しく変わったという背景の中で、「初級者がTOEICをどのように準備しなくてはならないのか」という問題についてわかりやすくアプローチしています。

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA75816192
  • ISBN
    • 4010934905
    • 9784010940815
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpneng
  • 出版地
    [東京]
  • ページ数/冊数
  • 大きさ
    21cm
  • 分類
  • 件名
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