新TOEICテスト一発で正解がわかる

Author(s)

• キム, デギュン キム, デギュン

Bibliographic Information

新TOEICテスト一発で正解がわかる

キム・デギュン著

[旺文社], [2006.1]-

• [正編]
• 基礎編

Other Title

新TOEICテスト一発で正解がわかる

Title Transcription

シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル

Note

出版事項はジャケットによる

[正編]: 付属資料: (録音ディスク1枚 : ディジタル ; 12cm)

基礎編: 付属資料: (録音ディスク2枚 : ディジタル ; 12cm)

基礎編: 付: (別冊63p) : 解答・解説

Description and Table of Contents

Volume

[正編] ISBN 9784010934906

Description

ＰＡＲＴ別に「問題のパターン」を挙げ、正解を一発で導き出すための攻略法を詳しく解説しています。スコアアップに欠かせない語彙力を養うために、各ＰＡＲＴで頻出する単熟語約１，５００語が収録されています。新ＴＯＥＩＣの問題形式と内容に完璧にあった模擬テスト２００問が巻末に収録されています。付属の音声ＣＤには、アメリカ・イギリス・カナダ・オーストラリアのネイティブのナレーションが吹き込まれています。

Volume

基礎編 ISBN 9784010940815

Description

この本は、ＴＯＥＩＣが新しく変わったという背景の中で、「初級者がＴＯＥＩＣをどのように準備しなくてはならないのか」という問題についてわかりやすくアプローチしています。

by "BOOK database"

Details

• NCID: BA75816192
• ISBN:
  • 4010934905
  • 9784010940815
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpneng
• Place of Publication: [東京]
• Pages/Volumes: 冊
• Size: 21cm
• Classification:
  • NDC8 : 830.79
  • NDC9 : 830.79
• Subject Headings:
  • BSH : 英語