残留応力のX線評価 : 基礎と応用
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残留応力のX線評価 : 基礎と応用
養賢堂, 2006.7
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Evaluation of residual stresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
残留応力のX線評価 : 基礎と応用
Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
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ザンリュウ オウリョク ノ Xセン ヒョウカ : キソ ト オウヨウ
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Note
欧文タイトル (誤植): Evaluation of residual sresses by X-ray diffraction : fundamentals and applications
欧文タイトルは標題紙裏による
参考文献: 各章末
Description and Table of Contents
Table of Contents
- 第１部 残留応力の基礎（応力とひずみ；残留応力の発生・評価・制御；残留応力と強度評価）
- 第２部 Ｘ線応力測定の基礎（結晶材料；Ｘ線と回折；多結晶のＸ線応力測定；Ｘ線応力測定の実際）
- 第３部 Ｘ線応力測定法の応用（シンクロトロン放射光による応力測定；中性子回折による応力測定；多相材料・複合材料の応力評価；表面改質・コーティングの応力評価；薄膜の応力評価；接合・溶接材の残留応力評価）
- 第４部 結晶弾性のマイクロメカニックス（単結晶の弾性変形；単結晶のＸ線応力測定；多結晶・多相材料の回析弾性定数；繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のＸ線応力測定）
- 付録
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