非破壊試験の理論

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非破壊試験の理論

前田宣喜, 矢川元基著

丸善プラネット , 丸善株式会社出版事業部(発売), 2007.2

タイトル読み

ヒハカイ シケン ノ リロン

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注記

参考図書: p566

内容説明・目次

目次

  • 1 序論
  • 2 放射線透過試験
  • 3 超音波探傷試験による欠陥検出の原理
  • 4 渦電流探傷試験(電磁誘導試験)
  • 5 磁紛探傷試験
  • 6 浸透探傷試験
  • 7 今後の展開

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA81446644
  • ISBN
    • 9784901689656
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京,東京
  • ページ数/冊数
    xi, 579p
  • 大きさ
    27cm
  • 分類
  • 件名
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