電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測

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電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測

研究代表者 富取正彦

（科学研究費補助金(基盤研究A)研究成果報告書, 平成17-19年度）

[富取正彦], 2008.5

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デンアツ インカ ヒセッショク ゲンシカンリョク ケンビキョウホウ ブンコウホウ ニ ヨル キノウ ナノコウゾウ カイメン ノ デンシ ブッセイ ケイソク

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研究課題番号:17206005

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Details

  • NCID
    BA88014240
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpneng
  • Place of Publication
    [能美]
  • Pages/Volumes
    71p
  • Size
    30cm
  • Parent Bibliography ID
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