電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測

著者

• 富取, 正彦 トミトリ, マサヒコ

書誌事項

電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測

研究代表者 富取正彦

（科学研究費補助金(基盤研究A)研究成果報告書, 平成17-19年度）

[富取正彦], 2008.5

タイトル読み

デンアツ インカ ヒセッショク ゲンシカンリョク ケンビキョウホウ ブンコウホウ ニ ヨル キノウ ナノコウゾウ カイメン ノ デンシ ブッセイ ケイソク

注記

研究課題番号:17206005

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA88014240
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [能美]
• ページ数/冊数: 71p
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA31816366