走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと
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走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと
（実験物理科学シリーズ, 6）
共立出版, 2009.3
- タイトル別名
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Scanning probe microscopy
- タイトル読み
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ソウサ プローブ ケンビキョウ : タダシイ ジッケン ト データ カイセキ ノ タメニ ヒツヨウナ コト
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注記
文献: 各章末
内容説明・目次
目次
- 基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に１ プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいこと（回路を理解するための基礎；信号を取り出すための基礎；振動を扱うための基礎）
- 基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に２ プローブ顕微鏡の基礎（プローブ顕微鏡の仕組み；プローブ顕微鏡のファミリー；スペクトル測定の原理と留意点；周辺技術）
- 実践編 プローブ顕微鏡の使い方（探針の作製と評価；試料の作り方・扱い方；信号の取り方；データ解析の方法；ＳＰＭの理論シュミレーション法とその応用）
- 発展編 よりレベルの高い使い方をするための先端技術（溶液中の計測；生体材料計測；高分子の弾性計測；デバイス特性評価への応用；化学反応を観る；相転移を観る；スピンを測る；微細加工とＳＰＭ；ステップインモード計測；非接触ＡＦＭの展開；光技術との融合；走査型アトムプローブ；マルチプローブ計測）
「BOOKデータベース」 より