LSIの信頼性

Author(s)

• 二川, 清 ニカワ, キヨシ
• 塩野, 登 シオノ, ノボル
• 横川, 慎二 ヨコガワ, シンジ
• 福田, 保裕 フクダ, ヤスヒロ
• 三井, 泰裕 ミツイ, ヤスヒロ
• 信頼性技術叢書編集委員会 シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ

Bibliographic Information

LSIの信頼性

二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著

（信頼性技術叢書）

日科技連出版社, 2010.10

Other Title

LSIの信頼性

Title Transcription

LSI ノ シンライセイ

Note

その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕

監修者: 信頼性技術叢書編集委員会

参考文献: 章末

Description and Table of Contents

Table of Contents

• 第１章　ＬＳＩ信頼性保証概論
• 第２章　トランジスタ系の信頼性
• 第３章　ＬＳＩ配線の信頼性
• 第４章　静電気破壊現象
• 第５章　故障解析
• 第６章　寿命データ解析

by "BOOK database"

Details

• NCID: BB03841227
• ISBN:
  • 9784817193636
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: viii, 183p, 図版 [2] p
• Size: 21cm
• Classification:
  • NDC8 : 549.7
  • NDC9 : 549.7
• Subject Headings:
  • BSH : 集積回路
  • BSH : 信頼性(工学)
  • NDLSH : 大規模集積回路
• Parent Bibliography ID:
  • BA87180302