表面分析

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表面分析

石田英之 [ほか] 著 ; 日本分析化学会編

（分析化学実技シリーズ, 応用分析編 ; 1）

共立出版, 2011.8

タイトル別名

Surface analysis

Application analysis

タイトル読み

ヒョウメン ブンセキ

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注記

その他の著者: 吉川正信, 中川善嗣, 宮田洋明, 加連明也, 萬尚樹

文献あり

内容説明・目次

目次

  • １　表面分析序論（表面分析の目的・背景；表面分析の手法　ほか）
  • ２　赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴；ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴　ほか）
  • ３　Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴；ＸＰＳ装置　ほか）
  • ４　二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴；ＳＩＭＳの装置　ほか）
  • ５　番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ；Ｓｔａｔｉｃ　ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴；ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置　ほか）
  • 付録　主な元素の化学シフト

「BOOKデータベース」 より

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