Applied logistic regression

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Applied logistic regression

David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant

(Wiley series in probability and mathematical statistics)

Wiley, c2013

3rd ed

  • : [hardcover]

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注記

Series statement on cover: Wiley series in probability and statistics

Includes bibliographical references (p. 459-478) and index

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB12413927
  • ISBN
    • 9780470582473
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Hoboken, N.J.
  • ページ数/冊数
    xvi, 500 p.
  • 大きさ
    25 cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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