Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience

著者

• Zuo, Jian Min
• Spence, John C. H.

書誌事項

Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience

[by] Jian Min Zuo, John C.H. Spence

Springer, c2017

• : [hardcover]

注記

Includes bibliographical references (p. 644-652) and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB24356693
• ISBN:
  • 9781493966059
• LCCN: 2016947937
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xxvi, 729 p.
• 大きさ: 25 cm