テストと信頼性

著者

• 樹下, 行三 キノシタ, コウゾウ

書誌事項

テストと信頼性

樹下行三編著

（マイクロコンピュータ基礎講座, 5）

オーム社, 1982.4

タイトル読み

テスト ト シンライセイ

注記

監修:石井治,相磯秀夫

参考文献:p209〜214

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN00609041
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 218p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 548.2
  • NDC8 : 007.6
  • NDLC : M154
• 件名:
  • NDLSH : 電子計算機
• 親書誌ID:
  • BN00608581