テストと信頼性

Author(s)

• 樹下, 行三 キノシタ, コウゾウ

Bibliographic Information

テストと信頼性

樹下行三編著

（マイクロコンピュータ基礎講座, 5）

オーム社, 1982.4

Title Transcription

テスト ト シンライセイ

Note

監修:石井治,相磯秀夫

参考文献:p209〜214

Details

• NCID: BN00609041
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: 218p
• Size: 22cm
• Classification:
  • NDC8 : 548.2
  • NDC8 : 007.6
  • NDLC : M154
• Subject Headings:
  • NDLSH : 電子計算機
• Parent Bibliography ID:
  • BN00608581