植物試料のための超薄切片法

著者

• 遠山, 益 トオヤマ, ススム
• 山田, 英智 ヤマダ, エイチ

書誌事項

植物試料のための超薄切片法

遠山益著

（医学・生物学のための電子顕微鏡実験法, 5）

学会出版センター, 1983.8

タイトル読み

ショクブツ シリョウ ノ タメノ チョウハク セッペンホウ

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• 植物試料のための超薄切片法

  1983

  NDLデジタルコレクション

  限定公開

注記

参考書:p110

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN00760418
• ISBN:
  • 4762262862
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 114p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC8 : 470.72
  • NDLC : RA64
• 件名:
  • NDLSH : 電子顕微鏡
  • NDLSH : ミクロテクニック
• 親書誌ID:
  • BN00123924