先端材料評価のための電子顕微鏡技法
著者
書誌事項
先端材料評価のための電子顕微鏡技法
朝倉書店, 1991.12
- タイトル別名
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電子顕微鏡技法 : 先端材料評価のための
- タイトル読み
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センタン ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ デンシ ケンビキョウ ギホウ
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501.5||23T10052726*,
549.5||NIT10053476*, 549.5||NIT10052990*, 549.5||NIT10053857* OPAC
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内容説明・目次
目次
- 基礎技術編(構造解析法;分析技法;特殊観察法;試料作製法;画像記録・処理)
- 応用編(セラミックス;半導体;イオン結晶;金属;有機高分子;無機材料)
「BOOKデータベース」 より