表面分析
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表面分析
(分析化学実技シリーズ, 応用分析編 ; 1)
共立出版, 2011.8
- Other Title
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Surface analysis
Application analysis
- Title Transcription
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ヒョウメン ブンセキ
Available at / 209 libraries
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The Institute for Solid State Physics Library. The University of Tokyo.図書室
433:B7:応用17210324682
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Note
その他の著者: 吉川正信, 中川善嗣, 宮田洋明, 加連明也, 萬尚樹
文献あり
Description and Table of Contents
Table of Contents
- 1 表面分析序論(表面分析の目的・背景;表面分析の手法 ほか)
- 2 赤外・ラマン分光法(赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴;ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴 ほか)
- 3 X線光電子分光法(XPS、ESCA)(XPSの原理と特徴;XPS装置 ほか)
- 4 二次イオン質量分析法(SIMS)(SIMSの原理と特徴;SIMSの装置 ほか)
- 5 番行時間型二次イオン質量分析法(TOF‐SIMS;Static SIMS)(TOF‐SIMSの原理と特徴;TOF‐SIMSの装置 ほか)
- 付録 主な元素の化学シフト
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