表面分析
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表面分析
（分析化学実技シリーズ, 応用分析編 ; 1）
共立出版, 2011.8
- Other Title
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Surface analysis
Application analysis
- Title Transcription
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ヒョウメン ブンセキ
Available at / 210 libraries
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The Institute for Solid State Physics Library. The University of Tokyo.図書室
433:B7:応用17210324682
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Note
その他の著者: 吉川正信, 中川善嗣, 宮田洋明, 加連明也, 萬尚樹
文献あり
Description and Table of Contents
Table of Contents
- １ 表面分析序論（表面分析の目的・背景；表面分析の手法 ほか）
- ２ 赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴；ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴 ほか）
- ３ Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴；ＸＰＳ装置 ほか）
- ４ 二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴；ＳＩＭＳの装置 ほか）
- ５ 番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ；Ｓｔａｔｉｃ ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴；ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置 ほか）
- 付録 主な元素の化学シフト
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