論理とテスト

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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]

（岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編, 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2）

岩波書店, 1985.5

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ロンリ ト テスト

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参考書: p303-305

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  • NCID
    BN00059257
  • ISBN
    • 4000101846
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    x, 313p
  • Size
    22cm
  • Classification
  • Subject Headings
  • Parent Bibliography ID
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