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日本規格協会編集

（JISハンドブック / 日本規格協会編, 8-9, 21, 22-1, 22-2, 23-1, 23-2）

日本規格協会, 1971.5-

  • 1971
  • 1974
  • 1976
  • 1977
  • 1978
  • 1979
  • 1980
  • 1981
  • 1982
  • 1983
  • 1984
  • 1985
  • 1986
  • 1987
  • 1988
  • 1989
  • 1990
  • 1991: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1991: 部品編
  • 1992: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1992: 部品編
  • 1993: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1993: 部品編
  • 1994: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1994: 部品編
  • 1995: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1995: 部品編
  • 1996: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1996: 部品編
  • 1997: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1997: 部品編
  • 1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1998: 部品編
  • 1999: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
  • 1999: 部品編
  • 2001 1: 試験編
  • 2001 2: オプトエレクトロニクス編
  • 2001 3: 部品編
  • 2002 1: 試験
  • 2002 2: オプトエレクトロニクス
  • 2002 3: 部品
  • 2003 1: 試験
  • 2003 2: オプトエレクトロニクス
  • 2003 3: 部品
  • 2004 1: 試験
  • 2004 2: オプトエレクトロニクス
  • 2004 3: 部品
  • 2005 1: 試験
  • 2005 2: オプトエレクトロニクス
  • 2005 3: 部品
  • 2006 1: 試験
  • 2006 2: オプトエレクトロニクス
  • 2006 3: 部品
  • 2007 1: 試験
  • 2007 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2007 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2007 3-1: 部品
  • 2007 3-2: 部品
  • 2008 1: 試験
  • 2008 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2008 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2008 3-1: 部品
  • 2008 3-2: 部品
  • 2009 1: 試験
  • 2009 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2009 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2009 3-1: 部品
  • 2009 3-2: 部品
  • 2010 1: 試験
  • 2010 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2010 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2010 3-1: 部品
  • 2010 3-2: 部品
  • 2011 1: 試験
  • 2011 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2011 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2011 3-1: 部品
  • 2011 3-2: 部品
  • 2012 1: 試験
  • 2012 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2012 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2012 3-1: 部品
  • 2012 3-2: 部品
  • 2013 1: 試験
  • 2013 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2013 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2013 3-1: 部品
  • 2013 3-2: 部品
  • 2014 1: 試験
  • 2015 1: 試験
  • 2015 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2015 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2018 1: 試験
  • 2018 2-1: オプトエレクトロニクス
  • 2018 2-2: オプトエレクトロニクス
  • 2018 3-1: 部品
  • 2018 3-2: 部品

Title Transcription

デンシ

Available at  / 236 libraries

  • Aichi Shukutoku University

    1990549||N77||'90A52444

    OPAC

  • 青森大学 附属図書館

    1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編UG085134O, 1998: 部品編509.13/NUG085135P, 1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13/NUG085134O, 1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13/NUG085134O

    OPAC

  • 秋田県立大学 附属図書館 本荘キャンパス図書館

    2001 1.試験編00014825, 2001 2.オプトエレクトロニクス編00014826, 2001 3.部品編00014827, 2002 1.試験00130978, 2002 2.オプトエレクトロニクス00130979, 2002 3.部品00140878, 2006 1: 試験10128658, 2006 2: オプトエレクトロニクス10128659, 2006 3: 部品10128660

    OPAC

  • Akita University Library

    1976549.03||J54||1976117602222

    OPAC

  • 旭川工業高等専門学校 図書室

    2002 3.部品3008053, 2004 1:試験3008734, 2004 2:オプトエレクトロニクス3008735, 2004 3:部品3008736, 2007 1: 試験509.13||G 21||Jisu3011088, 2007 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||G 22-1||Jisu3011089, 2007 3-1: 部品509.13||G 23-1||Jisu3011090, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス509.13||G 22-2||Jisu3011112, 2007 3-2:部品509.13||G 23-2||Jisu3011113, 2013 電子21 試験509.13‖G21‖Jisu3015049, 2013 電子22-1 オプトエレクトロニクス509.13‖G22-1‖Jisu3015050, 2013 電子22-1 オプトエレクトロニクス5509.13‖G22-2‖Jisu3015051, 2013 電子23-1 部品509.13‖G23-1‖Jisu3015052, 2013 電子23-2 部品509.13‖G23-2‖Jisu3015053, 2015 電子21 試験509.13‖G21‖Jisu3016202, 2015 電子22-1 オプトエレクトロニクス509.13‖G22-1‖Jisu3016203, 2015 電子22-2 オプトエレクトロニクス509.13‖G22-2‖Jisu3016204

    OPAC

  • Azabu Univ. Center Sci. Info. Serv図

    2005 1: 試験11028146, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13||N77||200511028145, 2005 3: 部品509.13||N77||200511028144

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  • 有明工業高等専門学校 図書館

    1978549||N0000209221, 2002 1:試験編1120018553, 2002 2:オプトエレクトロニクス編1120018565

    OPAC

  • 石巻専修大学 図書館参考

    1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編R549:N710010388114, 1997 部品編R549:N710010387959

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  • 石巻専修大学 図書館開架

    1987549:N710000374470, 1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編549:N710010108694, 1993 部品編549:N710010108702

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  • Ibaraki Prefectural University of Health Sciences Library

    1995 試験方法・オプトエレクトロニクス編549/J 54/'9500037991, 1995 部品編549/J 54/'9500037992

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  • 茨城工業高等専門学校 学術総合情報センター 図書館

    2005 1: 試験509.1||J840714O, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.1||J840715P, 2005 3: 部品509.1||J840716Q

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  • Ibaraki University Library図

    1982549:515:82000337789, 1983549:515:83000337790, 1984549:Jis:84000371552

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  • Ibaraki University Library, Hitachi Branch分

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  • 医療創生大学 図書館

    2007 1: 試験R509.13/N71/'07,210001718964, 2007 2: オプトエレクトロニクスR509.13/N71/'07,22,10001718931, 2007 2: オプトエレクトロニクスR509.13/N71/'07,22,20001718949, 2007 3: 部品R509.13/N71/'07,23,10001718956, 2007 3: 部品R509.13/N71/'07,23,20001718923, 2008 1: 試験R509.13/N71/'08,210001763101, 2008 2-1 : オプトエレクトロニクスR509.13/N71/'08,22,10001763119, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクスR509.13/N71/'08,22,20001763127, 2008 3-1 : 部品R509.13/N71/'08,23,10001763135, 2008 3-2 : 部品R509.13/N71/'08,23,20001763143, 2009 1: 試験R509.13/N 71/'09,210001988146, 2009 2-1: オプトエレクトロニクスR509.13/N 71/'09,22,10001988153, 2009 2-2: オプトエレクトロニクスR509.13/N 71/'09,22,20001988161, 2009 3-1: 部品R509.13/N 71/'09,23,10001988179, 2009 3-2: 部品R509.13/N 71/'09,23,20001988187, 2010 1: 試験R509.13/N 71/'10,210001952456, 2010 2-1: オプトエレクトロニクスR509.13/'10,22,10001952464, 2010 2-2: オプトエレクトロニクスR509.13/N 71/'10,22,20001952472, 2010 3-1: 部品R509.13/N 71/'10,23,10001952480, 2010 3-2: 部品R509.13/N 71/'10,23,20001952498, 2013 3-1: 部品R509.13/N 71/'13,23,10002146058, 2013 3-2: 部品R509.13/N 71/'13,23,20002146066, 2013 1: 試験R509.13/N 71/'13,210002145688, 2013 2-1: オプトエレクトロニクスR509.13/N 71/'13,22,10002145696, 2013 2-2: オプトエレクトロニクスR509.13/N 71/'13,22,20002145704, 2014 1: 試験R509.13/N 71/'14,210002247963, 2015 1: 試験R509.13/N 71/'15,210002264521, 2015 2-1: オプトエレクトロニクスR509.13/N 71/'15,22,10002264539, 2015 2-2: オプトエレクトロニクスR509.13/N 71/'15,22,20002264547

    OPAC

  • 岩手県立大学 メディアセンターメ

    2003 1.試験R509.13:ジ:03-1300044385, 2003 2.オプトエレクトロニクスR509.13:ジ:03-2300044401, 2003 3.部品R509.13:ジ:03-3300044427

    OPAC

  • Iwate University Library

    1971509.13:N77:2-460201506466, 1976509.13:N77:2-510100434208, 1979509.13:N77:2-540201506482, 1981509.13:N77:2-560201506490, 1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13:N77:2-93-10010623072, 1993 部品編509.13:N77:2-93-20010623080

    OPAC

  • 宇宙航空研究開発機構 角田図書室JAXA/KAKUDA

    1974621.3/N/12731273, 1984621.3(02)/N/30413041, 1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編6/N/44114411, 1996 部品編6/N/44124412, 2004 1:試験006||N||51620005162, 2004 2:オプトエレクトロニクス006||N||51630005163, 2004 3:部品006||N||51640005164

    OPAC

  • 宇宙航空研究開発機構 本社図書館

    OPAC

  • 宇都宮大学 附属図書館 陽東分館

    1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編503.8-P2-91.82380008421, 1991 部品編503.8-P2-91.92380008439, 1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編503.8-P2-92.82380011755, 1992 部品編503.8-P2-92.92380011755, 1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編503.8||P2||97.8, 1997 部品編503.8-P2-97.9, 2006 1: 試験509.13||N71||2006.21, 2002 試験509.13||N71||2002.21, 2002 オプトエレクトロニクス509.13||N71||2002.22

    OPAC

  • 宇都宮大学 附属図書館 陽東分館分

    2015 1: 試験509.13||N71||2015.212016056208, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2015.22.12016056216, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2015.22.22016056224

    OPAC

  • 宇部工業高等専門学校 図書館

    1971549033817, 2010 1: 試験509.13||||112038112038, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||||112039112039, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||||112040112040, 2010 3-1: 部品509.13||||112041112041, 2010 3-2: 部品509.13||||112042112042

    OPAC

  • 愛媛大学 図書館図

    2008 2-1 : オプトエレクトロニクス509.13||JI||22-1-20080312008057914, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクス509.13||JI||22-2-20080312008057689, 2008 3-1 : 部品509.13||JI||23-1-20080312008057938, 2008 3-2 : 部品509.13||JI||23-2-20080312008057860

    OPAC

  • 大分工業高等専門学校 図書館

    549||Ni5-1712595

    OPAC

  • Oita University Library

    1974427.15||N1-1||197410388779, 2002 1:試験509.13||ND19||2002-1112755796, 2002 2:オプトエレクトロニクス509.13||ND19||2002-211275580X

    OPAC

  • Osaka University of Economics & Law Library

    1993 部品編5490130718

    OPAC

  • 大阪工業大学 図書館中央

    2002 1.試験R509.13||J||02/2110106313, 2002 2.オプトエレクトロニクスR509.13||J||02/2210106314, 2002 3.部品R509.13||J||02/2310200075, 2003 1.試験R509.13||J||03/2110206876, 2003 2.オプトエレクトロニクスR509.13||J||03/2210206877, 2003 3.部品R509.13||J||03/2310206878, 2004 1:試験R509.13||J||04/2110400017, 2004 2:オプトエレクトロニクスR509.13||J||04/2210400018, 2004 3:部品R509.13||J||04/2310400019

    OPAC

  • 大阪公立大学 杉本図書館図

    1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13//N71//800411790180043, 1994 部品編509.13//N71//800511790180050

    OPAC

  • 大阪公立大学 杉本図書館図書館

    1971501.7//N7-11//7100010189017

    OPAC

  • Library & Science Information Center, Osaka Prefecture University

    197810080124063

    OPAC

  • 大阪産業大学 綜合図書館

    1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.1||JIS02738854, 1994 部品編509.1||JIS02737476

    OPAC

  • Osaka University, Main Library

    198208322002802

    OPAC

  • 大阪大学 附属図書館 理工学図書館

    198008024012042

    OPAC

  • 大島商船高等専門学校 図書館

    1977549.09||N1||1A000026494, 19805B000006003, 2013 1: 試験509.13||J21||13A201300461

    OPAC

  • 岡山県立大学 附属図書館

    2001 1: 試験編00276648, 2002 2: オプトエレクトロニクス00276649, 2002 3: 部品00276650

    OPAC

  • Okayama University Library工情報

    1990Sz50||JS016000061358*

    OPAC

  • Okayama University Library附属図

    1971S549/J012111120705, 2005 2: オプトエレクトロニクスS509/J016000362056, 2005 3: 部品S509/J016000362057, 2009 1: 試験S509/J016000407990, 2009 2-1: オプトエレクトロニクスS509/J016000407991, 2009 2-2: オプトエレクトロニクスS509/J016000407992, 2009 3-1: 部品S509/J016000407993, 2009 3-2: 部品S509/J016000407994

    OPAC

  • 岡山理科大学 図書館図

    1985100091375, 1987100107455, 1988100118371, 1989100131793, 1990100142355, 1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編100165743, 1993 部品編100172258, 1993 電子試験方法・ オプトエレクトロニクス編100172257, 1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編100210823, 1996 部品編100210745, 1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編100223488, 1997 部品編100223489

    OPAC

  • 沖縄工業高等専門学校

    2009 1: 試験509.13||N71||210000000052333, 2009 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||22-10000000052334, 2009 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||22-20000000052335, 2009 3-1: 部品509.13||N71||23-10000000052336, 2009 3-2: 部品509.13||N71||23-20000000052337, 2010 1: 試験509.13||N71||210000000053191, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||22-10000000053192, 2010 3-1: 部品509.13||N71||23-10000000053193

    OPAC

  • 海上保安大学校 図書館

    1982501.7/JI-4/3-82100112091, 1987549/NI/87100049873, 1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編540.33/NI400089779, 1991 部品編509.13/NI400089788, 1997 部品編549/NI/9400163811, 1977501.7/JI-4/3-77100118783

    OPAC

  • Japan Agency for Marine-Earth Science and Technology Library図

    2006 1: 試験R||509.13||N77||'06-2100025372, 2006 2: オプトエレクトロニクスR||509.13||N77||'06-2200025373, 2006 3: 部品R||509.13||N77||'06-2300025374, 2013 3-1: 部品509.13||N77||'13-23-132007759, 2013 3-2: 部品509.13||N77||'13-23-232007767, 2015 1: 試験509.13||N77||'15-2132007755, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N77||'15-22-132007764, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N77||'15-22-232007765

    OPAC

  • 香川大学 図書館 創造工学部分館

    1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編2321980078, 1998 部品編2321980079

    OPAC

  • 核融合科学研究所 図書室3

    2004 1:試験R509||Nip||2140023715, 2004 2:オプトエレクトロニクスR509||Nip||2240023723, 2004 3:部品R509||Nip||2340023731

    OPAC

  • 鹿児島純心女子短期大学 図書館

    1992: 試験方法・オプトエレクトロニクス編063012597, 1992: 部品編063012608

    OPAC

  • Kagoshima University Library

    1989509.13/J54/198921189054973

    OPAC

  • 神奈川大学 図書館

    197700143367, 197800148798, 197900153503, 198000159968, 198100166908, 198200173806, 198300185282, 1994: 試験方法・オプトエレクトロニクス編BB199502663, 1994: 部品編BB199502662, 1996: 試験方法・オプトエレクトロニクス編BB199612405, 1996: 部品編BB199612395, 1998: 部品編BB199911573, 1999: 試験方法・オプトエレクトロニクス編BB199911568, 2001 1: 試験編BB200013854, 2001 2: オプトエレクトロニクス編BB200013855, 2001 3: 部品編BB200013856, 2002 1: 試験BB200200037, 2002 2: オプトエレクトロニクスBB200200038, 2002 3: 部品BB200201250, 2003 1: 試験BB200307419, 2003 2: オプトエレクトロニクスBB200307420, 2003 3: 部品BB200307421, 2004 1: 試験BB200400969, 2004 2: オプトエレクトロニクスBB200400968, 2004 3: 部品BB200400967, 2005 1: 試験BB200413845, 2005 2: オプトエレクトロニクスBB200413846, 2005 3: 部品BB200413847, 2006 1: 試験BB200605563, 2006 2: オプトエレクトロニクスBB200605564, 2006 3: 部品BB200605565, 2007 1: 試験BB200706483, 2007 2-1: オプトエレクトロニクスBB200706484, 2007 2-2: オプトエレクトロニクスBB200706485, 2007 3-1: 部品BB200706486, 2007 3-2: 部品BB200706487, 2008 1: 試験BB200805251, 2008 2-1: オプトエレクトロニクスBB200805252, 2008 2-2: オプトエレクトロニクスBB200805253, 2008 3-1: 部品BB200805254, 2008 3-2: 部品BB200805255, 2009 1: 試験BB200908274, 2009 2-1: オプトエレクトロニクスBB200908275, 2009 2-2: オプトエレクトロニクスBB200908276, 2009 3-1: 部品BB200908277, 2009 3-2: 部品BB200908278, 2010 1: 試験BB201005258, 2010 2-1: オプトエレクトロニクスBB201006492, 2010 2-2: オプトエレクトロニクスBB201006381, 2010 3-1: 部品BB201006382, 2010 3-2: 部品BB201006383, 2011 1: 試験BB201108349, 2011 2-1: オプトエレクトロニクスBB201108348, 2011 2-2: オプトエレクトロニクスBB201108351, 2011 3-1: 部品BB201108350, 2011 3-2: 部品BB201108347, 2012 1: 試験BB201205951, 2012 2-1: オプトエレクトロニクスBB201205952, 2012 2-2: オプトエレクトロニクスBB201205953, 2012 3-1: 部品BB201205954, 2012 3-2: 部品BB201205955, 2013 1: 試験BB201304415, 2013 2-1: オプトエレクトロニクスBB201304416, 2013 2-2: オプトエレクトロニクスBB201304417, 2013 3-1: 部品BB201304418, 2013 3-2: 部品BB201304419, 2014 1: 試験BB201405130, 2015 1: 試験BB201506703, 2015 2-1: オプトエレクトロニクスBB201506704, 2015 2-2: オプトエレクトロニクスBB201506705, 2018 1: 試験BB201807247, 2018 2-1: オプトエレクトロニクスBB201807612, 2018 2-2: オプトエレクトロニクスBB201807613, 2018 3-1: 部品BB201807614, 2018 3-2: 部品BB201807615

    OPAC

  • Kanazawa University Library自然図自動書庫

    2001 1.試験編509.13:J61:2001-18000-87002-9, 2001 2.オプトエレクトロニクス編509.13:J61:2001-28000-87003-7

    OPAC

  • Kanazawa University Medical Library保健図書室

    2011 1: 試験509.13:J11:20111100-06598-9

    OPAC

  • Kwansei Gakuin University Library三田

    1986602:J61ds:19860096639604, 1995602:J61ds:19950001565373

    OPAC

  • Kwansei Gakuin University Library上ケ原

    1986602:2:1986-80096632674, 1989602:6:19890029009529, 1990602:6:19900029011335, 1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編602:6:19910029013349, 1991 部品編602:6:19910029013356

    OPAC

  • 木更津工業高等専門学校

    1995 部品編509.13028754, 1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13043176, 1997 部品編509.13043177, 2001 2.オプトエレクトロニクス編509.13056355

    OPAC

  • 北九州学術研究都市学術情報センター北九州図書

    2010 1: 試験509.13||N71||2010-21000092032, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2010-22-1000092033, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2010-22-2000092034, 2010 3-1: 部品509.13||N71||2010-23-1000092035, 2010 3-2: 部品509.13||N71||2010-23-2000092036, 2011 1: 試験509.13||N71||2011-21000094131, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2011-22-1000094132, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2011-22-2000094133, 2011 3-1: 部品509.13||N71||2011-23-1000094134, 2011 3-2: 部品509.13||N71||2011-23-2000094135, 1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||N71||1999-8-1000012143, 1999 部品編509.13||N71||1999-9-2000012144

    OPAC

  • Kyushu Institute of Technology Library図

    1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編T0317979*, 1993 部品編T0317980*

    OPAC

  • 九州工業大学 附属図書館 情報工学部分館

    1987T0404401*, 1989T0422895*, 1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編T6002892*, 1994 部品編T6002893*

    OPAC

  • Kyusyu University Design Library

    2003 3.部品509.13||N77||2003-23072031203004884

    OPAC

  • 九州大学 中央図書館

    1976003131996087178, 2004 1:試験509.13/N 71003112004031471, 2004 2:オプトエレクトロニクス509.13/N 71003112004031483, 2004 3:部品509.13/N 71003112004031495, 2007 1:試験509.13/N 71/21003112007027018, 2007 2-1:オプトエレクトロニクス509.13/N 71/22-1003112007027021, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス509.13/N 71/22-2003112007027033, 2007 3-1:部品509.13/N 71/23-1003112007027045, 2007 3-2:部品509.13/N 71/23-2003112007027057

    OPAC

  • Science and Technology Library, Kyushu University

    1978T027132004067846, 1979T027132004067858

    OPAC

  • 九州産業大学 図書館

    1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編10415656, 1992 部品編10415655, 1995 試験方法・オプトエレクトロニクス編10496103, 1995 部品編10496104, 1996 部品編10521984, 1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編10548830, 1997 部品編10548831, 1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編10573336, 1998 部品編10573334, 2001 3.部品編10658857, 2002 1.試験10666113, 2002 3.部品10672168, 2003 1.試験10694079, 2003 2.オプトエレクトロニクス10693948, 2003 3.部品10693953, 2004 1:試験10725674, 2004 2:オプトエレクトロニクス10725675, 2004 3:部品10725671, 2005 1: 試験10744211, 2005 2: オプトエレクトロニクス10744051, 2005 3: 部品10744054, 2009 1: 試験10840828, 2009 2: オプトエレクトロニクス10840829, 2009 2-2: オプトエレクトロニクス10840856, 2009 3-1: 部品10840830, 2009 3-2: 部品10840831, 2010 1: 試験10855972, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス10856659, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス10856660, 2010 3-1: 部品10855973, 2010 3-2: 部品10855974, 2011 1: 試験10867827, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス10867828, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス10867829, 2011 3-1: 部品10867830, 2011 3-2: 部品10867831, 2013 1: 試験10887950, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス10887951, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス10887952, 2013 3-1: 部品10887953, 2013 3-2: 部品10887954, 2014 1: 試験10899271, 2015 1: 試験10909282, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス10909283, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス10909284, 2018 1: 試験10941049, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス10941199, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス10941200, 2018 3-1: 部品10941050, 2018 3-2: 部品10941051

    OPAC

  • Kyoto University of Education Library図

    1987549.072||N 7118700297

    OPAC

  • Kyoto Institute of Technology Library図

    2003 1.試験509.13||J||2003-219200250417, 2003 2.オプトエレクトロニクス509.13||J||2003-229200250428, 2003 3.部品509.13||J||2003-239200250430

    OPAC

  • 京都大学 経済学部 図書室経済資

    1985資料室||20||1||Jis85062038

    OPAC

  • 京都大学 工学部南

    1995: 部品編4||1||30695075703

    OPAC

  • Kyoto University Library図

    19778-00||シ||112351619, 1990M||361||シ3||890063136, 1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編M||361||シ3||899089996, 1999 部品編M||361||シ3||999089997, 2001 1.試験編M||361||シ300108612, 2001 2.オプトエレクトロニクス編M||361||シ300108613, 2001 3.部品編M||361||シ300108614, 2003 1.試験M||361||シ302108995, 2003 2.オプトエレクトロニクスM||361||シ302108996, 2003 3.部品M||361||シ302108997, 2004 1:試験M||361||シ304063543, 2004 2:オプトエレクトロニクスM||361||シ304063544, 2004 3:部品M||361||シ304063545, 2005 1: 試験M||361||シ304077029, 2005 2: オプトエレクトロニクスM||361||シ304077030, 2005 3: 部品M||361||シ304077031

    OPAC

  • 京都大学 理学部地球惑星

    1971D-0||J||3(電子)1826656

    OPAC

  • 京都大学 理学部物理

    1978O2-A||||902452336

    OPAC

  • 京都府立大学 附属図書館図

    1986900004202

    OPAC

  • Library, Faculty of Engineering, Kinki University図書館

    2010 1: 試験509.13||N71||2010600281968, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2010600281977, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2010600281986, 2010 3-1: 部品509.13||N71||2010600281995, 2010 3-2: 部品509.13||N71||2010600282002, 2011 1: 試験509.13||N71||2011600328047, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2011600328056, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2011600328065, 2011 3-1: 部品509.13||N71||2011600328074, 2011 3-2: 部品509.13||N71||2011600328083, 2012 1: 試験509.13||N71||2012600353184, 2012 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2012600353193, 2012 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2012600353201, 2012 3-1: 部品509.13||N71||2012600353210, 2012 3-2: 部品509.13||N71||2012600353229, 2013 1: 試験600377511, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス600377520, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス600377539, 2013 3-1: 部品600377548, 2013 3-2: 部品600377557, 2014 1: 試験600390156, 2015 1: 試験43101405, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス43101406, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス43101407

    OPAC

  • 近畿大学 産業理工学部図書館図

    2005 1: 試験509.13||N 77||200550066110, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13||N 77||200550066111, 2005 3: 部品509.13||N 77||200550066112, 2018 1: 試験509.13-N77-201850131630, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13-N77-201850131631, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13-N77-201850131632, 2018 3-1: 部品509.13-N77-201850131633, 2018 3-2: 部品509.13-N77-201850131634

    OPAC

  • Kindai University Central Library中図

    197900218851

    OPAC

  • Gifu University Library

    1974540.91||NIP411040341, 1978549||JIS411233360, 1979509.13||JIS411284266, 1983509.13||Jis110109058

    OPAC

  • 熊本高等専門学校 熊本キャンパス 図書館

    1984540.3||28||1984-359000080, 1997: 試験方法・オプトエレクトロニクス編540.3||59||'97-899990396

    OPAC

  • 熊本高等専門学校 八代キャンパス 図書館

    19781131056416, 2001 1: 試験編1132005353, 2001 3: 部品編1132005354, 2005 1: 試験1132013007, 2005 2: オプトエレクトロニクス1132013008, 2005 3: 部品1132013009, 2008 3-1: 部品1132009582, 2008 3-2: 部品1132009583, 2014 1: 試験1132013023

    OPAC

  • Kumamoto University Library図書館

    1971509.13/J,54/D(1971)1110922785X, 1976509.13/J,59/(1976)11109227914, 1979509.13/J,54/D(1979)1118016525X

    OPAC

  • 呉工業高等専門学校 図書館図書館

    1999 部品編509.13||J-5490021093, 2005 1: 試験509.13||N-71||21-190027268, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13||N-71||22-290027269

    OPAC

  • National Institute of Technology, Gunma College Library図書

    2001 1:試験編509.13:J54:213004099, 2001 2:オプトエレクトロニクス編509.13:J54:223004100, 2001 3:部品編509.13:J54:233004101

    OPAC

  • Science and Technology Library of Gunma University図書館

    2013 2-2: オプトエレクトロニクス509.13:J54:2013-22-2221400505, 2013 3-1: 部品509.13:J54:2014-23-1221400436, 2013 3-2: 部品509.13:J54:2014-23-2221400437, 2018 1: 試験509.13:J54:2018-21-1221800758, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13:J54:2018-22-1221800759, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13:J54:2018-22-2221800760

    OPAC

  • 甲子園大学 図書館大学図

    028481003

    OPAC

  • 高知学園大学・高知学園短期大学 図書館

    19790791864

    OPAC

  • Kochi University of Technology.Library

    1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編549||N71||9600009918, 1996 部品編549||N71||9600009919, 1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編549||N71||9700030143, 1997 部品編549||N71||9700030145, 1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編549||N71||9800030144, 1998 部品編549||N71||9800033324, 1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編549||N71||9900037394, 2003 1.試験549||N71||1-0300072512, 2003 2.オプトエレクトロニクス549||N71||2-0300072513, 2003 3.部品549||N71||3-0300072514, 2013 1: 試験549||N71||1-1300127935, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス549||N71||2-1-1300127936, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス549||N71||2-2-1300127937, 2013 3-1: 部品549||N71||3-1-1300127938, 2013 3-2: 部品549||N71||3-2-1300127939

    OPAC

  • 高知工業高等専門学校 図書館

    2010 2-1: オプトエレクトロニクス549||171||2010 2-1W68917, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス549||171||2010 2-2W68918

    OPAC

  • 神戸芸術工科大学 情報図書館

    1995 試験方法・オプトエレクトロニクス編050876, 1995 部品編050877

    OPAC

  • Kobe University Library for Maritime Sciences

    1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編549-J82154338, 1997 部品編549-J82154341, 1998 部品編549-J82209794

    OPAC

  • Kobe University Library for Science and Technology

    1974509-11-27030020077497

    OPAC

  • Kobe University Library for Human-Development Sciences

    1974547-9-92040000087144, 1981547-0-28040000128446

    OPAC

  • Kobe University General Library / Library for Intercultural Studies

    1971549-03-J060000085236

    OPAC

  • 公立諏訪東京理科大学 図書館図

    2001 1:試験編549||J 54||1-'0193036554, 2001 3:部品編549||J 54||3-'0193036555

    OPAC

  • 公立千歳科学技術大学 図書館

    2003 1.試験509.13||N000157289, 2003 2.オプトエレクトロニクス509.13||N000157297, 2004 2:オプトエレクトロニクス509.13||N000163873, 2015 1: 試験509.13||N||2015000293464, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N||2015:2-1000293472, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N||2015:2-2000293480

    OPAC

  • 公立鳥取環境大学 情報メディアセンター

    2008 3-2 : 部品509.13||N71||08-2300073242

    OPAC

  • 公立はこだて未来大学 情報ライブラリー

    1999 部品編509.13||Ji||1999000010578, 1999: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||Ji||1999000010577, 2011 1: 試験509.13||Ji||2011000081484, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||Ji||2011000081515, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||Ji||2011000081483, 2011 3-1: 部品509.13||Ji||2011000081517, 2011 3-2: 部品509.13||Ji||2011000081676

    OPAC

  • KOKUSHIKAN UNIVERSITY LIBRARY AND INFORMATION COMMONS本館

    1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編549.036||D 59||'92522127, 1992 部品編549.036||D 59||'92522128, 2001 1:試験編549.036||D 59||2001-1696485, 2001 3:部品編549.036||D 59||2001-3696486, 2002 2:オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2002-2590783, 2003 1.試験549.036||D 59||2003-1732363, 2003 2.オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2003-2732364, 2003 3.部品549.036||D 59||2003-3732365, 2007 1: 試験549.036||D 59||2007-1815432, 2007 2-1: オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2007-2-1815433, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2007-2-2815418, 2007 3-1: 部品549.036||D 59||2007-3-1815419, 2007 3-2:部品549.036||D 59||2007-3-2815420, 2010 1: 試験549.036||D 59||2010-1881893, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2010-2-1881894, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2010-2-2881895, 2010 3-1: 部品549.036||D 59||2010-3-1881896, 2010 3-2: 部品549.036||D 59||2010-3-2881897, 2011 1: 試験549.036||D 59||2011-1894802, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2011-2-1894803, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス549.036||D 59||2011-2-2894804, 2011 3-1: 部品549.036||D 59||2011-3-1894805, 2011 3-2: 部品549.036||D 59||2011-3-2894806

    OPAC

  • 国立科学博物館書庫

    1974509.13/N711500014276

    OPAC

  • Library of Education, National Institute for Educational Policy Research

    1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編549.1||1||'96963100683, 1996 部品編549.1||2||'96963100671

    OPAC

  • National Institute of Informatics

    2018 1: 試験M361||JIS||2018-21110201736, 2018 2-1: オプトエレクトロニクスM361||JIS||2018-22-1110201745, 2018 2-2: オプトエレクトロニクスM361||JIS||2018-22-2110201763, 2018 3-1: 部品M361||JIS||2018-23-1110201754, 2018 3-2: 部品M361||JIS||2018-23-2110201772

    OPAC

  • Komazawa University Library

    2003 2.オプトエレクトロニクス509.1:8-03:2031020829

    OPAC

  • 埼玉医科大学 附属図書館日高

    1990549/N100161173

    OPAC

  • Saitama Institute of Technology Library

    2008 1: 試験509.13-J540146884, 2008 2-1 : オプトエレクトロニクス509.13-J540146885, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクス509.13-J540146886, 2008 3-1 : 部品509.13-J540146887, 2008 3-2 : 部品509.13-J540146888

    OPAC

  • Saitama University Library図

    1979790392900, 1983830379600, 1987870327700, 1988880183900, 1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編940705400, 1994 部品編940705500, 1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編020007650, 1998 部品編020007651, 2002 1.試験020039073, 2002 2.オプトエレクトロニクス020039074, 2002 3.部品020039075

    OPAC

  • Saitama University Library機械

    1976549.03:J75-12823, 1979549.03:J79-3929, 1981543.03:J81-12744

    OPAC

  • Saga University Library図

    1971549-J 54117203267, 2010 1: 試験509.13-N 71-211110007764, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13-N 71-22-11110007797, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス509.13-N 71-22-21110007753, 2010 3-1: 部品509.13-N 71-23-11110007786, 2010 3-2: 部品509.13-N 71-23-21110007775, 1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13-N 71-94139400609

    OPAC

  • サレジオ工業高等専門学校 図書館

    2006 2: オプトエレクトロニクス509/ジス/06-22000379958, 2006 3: 部品509/ジス/06-23000379966

    OPAC

  • 産業能率大学 図書館

    2002 3.部品H||549.036||J 54411527600, 2002 1:試験H||549.036||J 54411515814, 2003 1:試験H||549.036||J 54411583224, 2003 3:部品H||549.036||J 54411583233, 2004 1:試験H||549.036||J 54411656222, 2004 3:部品H||549.036||J 54411656231, 2001 1:試験H||549.036||J 54411439051, 2001 3.部品H||549.036||J 54411439060, 1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編H||549.036||J 54411314558, 1999 部品編H||549.036||J 54411314567, 2005 1: 試験H||549.036||J 54411700222, 2005 3: 部品H||549.036||J 54411700231, 2006 1: 試験H||549.036||J 54411831832, 2006 3: 部品H||549.036||J 54411831841, 2007 1: 試験H||549.036||J 54411889725, 2007 3-1: 部品H||549.036||J 54411889734, 2008 1: 試験H||549.036||J 54411948791, 2008 3-1 : 部品H||549.036||J 54411948808, 2008 3-2 : 部品H||549.036||J 54411948817, 2009 1: 試験H||549.036||J 54412002813, 2009 3-1 : 部品H||549.036||J 54412002822, 2009 3-2 : 部品H||549.036||J 54412002831

    OPAC

  • 山陽小野田市立山口東京理科大学 図書館図

    1986509.13||N 77||1986-896610726, 1987509.13||N 77||1987-896609446, 1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||N 77||1991-896614944, 1991 部品編509.13||N 77||1991-996614945, 2001 1.試験編509.13||N 77||2001-2196645787, 2001 2.オプトエレクトロニクス編509.13||N 77||2001-2296645788, 2001 3.部品編509.13||N 77||2001-2396645789, 2018 1: 試験509.13||N 71||2018-2196665851, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N 71||2018-22-196665852, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N 71||2018-22-296665853, 2018 3-1: 部品509.13||N 71||2018-23-196665854, 2018 3-2: 部品509.13||N 71||2018-23-296665855

    OPAC

  • University of Shiga Prefecture Library

    2001 1:試験編509.13/シス/2001-10070132, 2001 2:オプトエレクトロニクス編509.13/シス/2001-20070133, 2001 3:部品編509.13/シス/2001-30070155, 2002 1:試験509.13/シス/2002-10077953, 2002 2:オプトエレクトロニクス509.13/シス/2002-20077954, 2002 3.部品509.13/シス/2002-30078276, 2003 1.試験509.13/シス/2003-11033199, 2003 2.オプトエレクトロニクス509.13/シス/2003-21056398, 2003 3.部品509.13/シス/2003-31033200, 2004 1:試験509.13/シス/2004-11060380, 2004 2:オプトエレクトロニクス509.13/シス/2004-21060381, 2004 3:部品509.13/シス/2004-31060382, 2005 1: 試験509.13/シス/2005-10085670, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13/シス/2005-20085671, 2005 3: 部品509.13/シス/2005-30085672, 2009 1: 試験509.13/シス/2009-11080286, 2009 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/シス/2009-21080287, 2009 2-2: オプトエレクトロニクス509.13/シス/2009-21080288, 2009 3-1: 部品509.13/シス/2009-31080289, 2009 3-2: 部品509.13/シス/2009-31080290

    OPAC

  • 静岡大学 附属図書館 浜松分館浜図

    1978509.13/15/19788800150537, 1979509.13/348000592934, 1981509.13/348000639958

    OPAC

  • Shizuoka Institute of Science and Technology

    2005 1: 試験509.13||N71||2110500794, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2210500801, 2005 3: 部品509.13||N71||2310500795

    OPAC

  • National Institutes of Natural Sciences Okazaki Library and Information Center図

    1990509.13/Ji/89123214117

    OPAC

  • Shibaura Institute of Technology Toyosu Library芝図

    2003 1.試験509.13||J54||2003-211000237, 2003 2.オプトエレクトロニクス509.13||J54||2003-221000238, 2003 3.部品509.13||J54||2003-231000239, 2001 1:試験編509.13||J54||2001-211157886, 2001 2:オプトエレクトロニクス編509.13||J54||2001-221157887, 2001 3:部品編509.13||J54||2001-231157888, 2018 1: 試験509.13/J54/2018-211042737, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/J54/2018-22-11042738, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13/J54/2018-22-21042739, 2018 3-1: 部品509.13/J54/2018-23-11042740, 2018 3-2: 部品509.13/J54/2018-23-21043498

    OPAC

  • Shimane University Library

    2015 1: 試験NDC:503/N77/21, 2015 2-1: オプトエレクトロニクスNDC:503/N77/22-1, 2015 2-2: オプトエレクトロニクスNDC:503/N77/22-2, 2018 1: 試験NDC:503/N77/21, 2018 2-1: オプトエレクトロニクスNDC:503/N77/22-1, 2018 2-2: オプトエレクトロニクスNDC:503/N77/22-2, 2018 3-1: 部品NDC:503/N77/23-1, 2018 3-2: 部品NDC:503/N77/23-2

    OPAC

  • 湘南工科大学 附属図書館

    1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編102231, 1998 部品編102232

    OPAC

  • Shobi University Media Center

    2005 1: 試験00053899, 2005 2: オプトエレクトロニクス00053900, 2005 3: 部品00053901

    OPAC

  • Engineering Library, Shinshu University

    2012 3-1: 部品509.13:J 542525001166, 2012 3-2: 部品509.13:J 542525001521, 2015 1: 試験509.13:J 542525003774, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13:J 542525003782, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13:J 542525003790

    OPAC

  • Faculty of Textile Science and Technology Library, Shinshu University図

    2018 1: 試験JIS2825060284, 2018 2-1: オプトエレクトロニクスJIS2825060292, 2018 2-2: オプトエレクトロニクスJIS2825060300, 2018 3-1: 部品JIS2825060318, 2018 3-2: 部品JIS2825060326

    OPAC

  • 実践女子大学 図書館図

    2007 1: 試験509.13/N71/211A0414158, 2007 2: オプトエレクトロニクス509.13/N71/22-11A0414159, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス509.13/N71/22-21A0414160, 2007 3-1: 部品509.13/N71/23-11A0414161, 2007 3-2:部品509.13/N71/23-21A0414162

    OPAC

  • 城西大学 水田記念図書館

    19860086099828

    OPAC

  • 女子美術大学 杉並図書館

    1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.1/N71/199911009183

    OPAC

  • 椙山女学園大学 中央図書館図

    2001 3:部品編101S04610

    OPAC

  • 仙台高等専門学校 名取キャンパス 図書館

    1993: 試験方法・オプトエレクトロニクス編900068417, 2012 1: 試験120120550, 2012 2-1: オプトエレクトロニクス120120551, 2012 2-2: オプトエレクトロニクス120120552, 2012 3-1: 部品120120553, 2012 3-2: 部品120120554

    OPAC

  • 仙台高等専門学校 広瀬キャンパス 図書館

    2006 1: 試験509.13||J54||2006C20060128, 2006 2: オプトエレクトロニクス509.13||J54||2006C20060106, 2006 3: 部品509.13||J54||2006C20060107, 2013 1: 試験C20130053, 2013 2-1: オプトエレクトロニクスC20130054, 2013 2-2: オプトエレクトロニクスC20130062, 2013 3-1: 部品C20130055, 2013 3-2: 部品C20130056, 1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編A00277, 1998 部品編A00278, 2002 3.部品509.13||J54||2002A02695, 2003 1.試験509.13||J54||2003A03574, 2003 2.オプトエレクトロニクス509.13||J54||2003A03575, 2003 3.部品509.13||J54||2003A03576, 2004 1:試験509.13||J54||2004A04567, 2004 2:オプトエレクトロニクス509.13||J54||2004A04568, 2004 3:部品509.13||J54||2004A04569, 2001 1:試験編509.13||J54||2001A02138, 2001 2:オプトエレクトロニクス編509.13||J54||2001A02139, 2001 3:部品編509.13||J54||2001A02140, 2002 1:試験509.13||J54||2002A02610, 2002 2:オプトエレクトロニクス509.13||J54||2002A02611

    OPAC

  • 崇城大学 図書館

    1974549||N1047346, 1976549||N1040093, 2002 1:試験509.13||N3019370, 2002 2:オプトエレクトロニクス509.13||N3019371, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス549.072||N3117959, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス549.072||N3117960, 2015 1: 試験549.072||N3117958

    OPAC

  • Tamagawa University Library & Multimedia Resource Center

    2005 1: 試験509.13/シ/21012166900, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13/シ/22012166911, 2005 3: 部品509.13/シ/23012166923, 2006 1: 試験509.13/シ/21012332008, 2006 2: オプトエレクトロニクス509.13/シ/22012332010, 2006 3: 部品509.13/シ/23012332021, 1974549.036/ジ/'74004654602, 1976549.036/ジ/'76004654614, 1979549.036/ジ/'79004700934, 1981549.036/ジ/'81004700958

    OPAC

  • 千葉工業大学 附属図書館

    2005 1: 試験R||509.13||J||21391057, 2005 2: オプトエレクトロニクスR||509.13||J||22399146, 2005 3: 部品R||509.13||J||23398652, 2009 1: 試験R||509.13||J||21426082, 2009 2-1: オプトエレクトロニクスR||509.13||J||22-1426083, 2009 2-2: オプトエレクトロニクスR||509.13||J||22-2426084, 2009 3-1: 部品R||509.13||J||23-1426085, 2009 3-2: 部品R||509.13||J||23-2426086

    OPAC

  • 千葉工業大学 附属図書館芝図

    1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13347182, 1999 部品編509.13347183

    OPAC

  • 千葉商科大学 付属図書館

    1971509.13/NihC900540684

    OPAC

  • Chiba University Library図

    1995 試験方法・オプトエレクトロニクス編501.7||J540009585221, 1995 部品編501.7||J540009585222

    OPAC

  • Tsukuba University of Technology Library for the Visually Impaired

    1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13:J-54:19939350228700, 1993 部品編509.13:J-54:19939350228800, 1994 部品編509.13:J-54:19949450006300

    OPAC

  • 津山工業高等専門学校 図書館

    2012 1: 試験509.13||J201200651

    OPAC

  • 鶴見大学 図書館

    1979509.13||J01731805

    OPAC

  • 帝京科学大学 附属図書館 千住図書館

    2003 1.試験549/N71/2003-10240068684, 2003 2.オプトエレクトロニクス549/N71/2003-20240068692, 2003 部品編549/N71/2003-30240068700

    OPAC

  • 帝京科学大学 附属図書館 東京西図書館

    1988R549||N71||19888901129505, 1989R549||N71||19898901262371, 1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編549||N71||19969601549166, 1996 部品編549||N71||19969601549174

    OPAC

  • 帝塚山大学 図書館 分館 (学園前キャンパス図書館)図

    1976348//J2//1976S2100044034*

    OPAC

  • 天津図書館日文新書

    1971T－65/ナ1/71－8080830, 1971Y/T－65/ナ1/71－8081338, 1971Y/T－65/ナ1/71－8081337, 1974T-65/ナ1/74-8082408, 1976Y/T－65/ナ1/76－8084074, 1977T－65/ナ1/77－8084339, 1979T－65/ナ1/79－8086301, 1980T－65/ナ1/80－8086695, 1981T－65/ナ1/81－8087879, 1982T－65/ナ1/82－8088844, 1983T－65/ナ1/83－8090247, 1985T－65/ナ1/85－8092579, 1986Y/T-65/ナ1/86-8093788

    OPAC

  • The University of Electro-Communications Library図庫

    1982509.13/N77/822218204517, 1988501.7/N774/882218802825, 1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編501.7/N774/942219405963, 1994 部品編501.7/N774/942219405964

    OPAC

  • Shimizu Library, Tokai University Library

    OPAC

  • 東京工科大学 メディアセンター

    2002 3.部品509.13||N00224638, 2002 1:試験509.13||N||200200224227, 2002 2:オプトエレクトロニクス509.13||N||200200224228

    OPAC

  • Etchujima library, Tokyo University of Marine Science and Technology図

    1971509.13||J 2||10-'71112467, 1981509.13||J 2||10-'81148571, 1989509.13/J 2/10-'89168328, 1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||J 2||10-1-'96183819, 1996 部品編509.13||J 2||10-2-'96183820

    OPAC

  • 東京科学大学 大岡山図書館

    1988509.13/J/1988115450271, 2001 1:試験編509.13/J/2001120320599, 2001 2:オプトエレクトロニクス編509.13/J/2001120320602, 2001 3:部品編509.13/J/2001120320610, 試験方法 1995509.13/J/1995120291734, 部品編 1995509.13/J/1995120291742, 2011 1: 試験509.13/J/2011300274048, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/J/2011300274056, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス509.13/J/2011300274064, 2011 3-1: 部品509.13/J/2011300274072, 2011 3-2: 部品509.13/J/2011300274080

    OPAC

  • 東京大学 工学部・工学系研究科環境海洋

    198503:400:81000101277

    OPAC

  • University of Tokyo, Komaba Library駒場図

    1979509.13:N71:793000332993, 1981509.13:N71:813000419477

    OPAC

  • 東京大学 理学図書館図書

    1984R53:POC:JS;84.82006256859

    OPAC

  • 東京都立産業技術研究センター 図書室多摩

    2005 1: 試験/509.13/J54/2005-21a210024428, 2005 2: オプトエレクトロニクス/509.13/J54/2005-22210024436, 2005 3: 部品/509.13/J54/2005-23210024444

    OPAC

  • 東京都立産業技術研究センター 図書室本部

    1978/509.13/J54/1978110039120, 1983/509.13/J54/1983-8110046935, 1985/509.13/J54/1985-8110039138, 1989/509.13/J54/1989-8110039146, 1991: 試験方法・オプトエレクトロニクス編/509.13/J54/1991-8110039153, 1991: 部品編/509.13/J54/1991-9110039161, 1998: 部品編/509.13/J54/1998-9110046943, 1999: 部品編/509.13/J54/1999-9110046950, 2001 1: 試験編/509.13/J54/2001-21110046968, 2003 1: 試験/509.13/J54/2003-21a110005527,110010691, 2005 1: 試験/509.13/J54/2005-21110005535, 2006 1: 試験/509.13/J54/2006-21110005543, 2006 2: オプトエレクトロニクス/509.13/J54/2006-22110005550, 2006 3: 部品/509.13/J54/2006-23110005568, 2008 1: 試験/509.13/J54/2008-21110023587

    OPAC

  • Tokyo Metropolitan College of Industrial Thechnology Shinagawa Library

    2007 1: 試験509.13/N71/07-21100486000, 2007 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/N71/07-22-1100486018, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス509.13/N71/07-22-2100486026, 2007 3-1: 部品509.13/N71/07-23-1100486034, 2007 3-2:部品509.13/N71/07-23-3100486042, 2008 3-2 : 部品509.13/N71/08-23-2100494558, 2008 3-1 : 部品509.13/N71/08-23-1100494566, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクス509.13/N71/08-22-2100494574, 2008 2-1 : オプトエレクトロニクス509.13/N71/08-22-1100494582, 2008 1: 試験509.13/N71/08-21100494590, 2009 1: 試験509.13/N71/09-21100509926, 2009 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/N71/09-22-1100509934, 2009 2-2: オプトエレクトロニクス509.13/N71/09-22-2100509942, 2009 3-1: 部品509.13/N71/09-23-1100509959, 2009 3-2: 部品509.13/N71/09-23-2100509967, 2010 1: 試験509.13/N71/11-21100527175, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/N71/11-22-1100527183, 2011 3-2: 部品509.13/N71/11-23-2100533926, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス509.13/N71/11-22-2100533918, 2015 1: 試験509.13||N71||15-21-1100569854, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||15-22-1100569862, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||15-22-2100569870, 2013 1: 試験509.13||N71||13-21100549427, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||13-22-1100549435, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||13-22-2100549443, 2013 3-1: 部品509.13||N71||13-23-1100549450, 2013 3-2: 部品509.13||N71||13-23-2100549468, 2018 1: 試験509.13||N71||18-21100665363, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||18-22-1100665371, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||18-22-2100665389, 2018 3-1: 部品509.13||N71||18-23-1100665397, 2018 3-2: 部品509.13||N71||18-23-2100665405

    OPAC

  • 東京都立大学 図書館 荒川館

    1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509.1:N77:'98-8039801276, 1998 部品編R509.1:N77:'98-9039801277

    OPAC

  • 東京都立大学 図書館 日野館図

    1989R509.13/N77/810159525, 1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509.13/N77/9110102732, 1991 部品編R509.13/N77/9110102733

    OPAC

  • 東京農業大学 生物産業学部図書館生産図

    1988024047

    OPAC

  • Tokyo University of Agriculture図

    1985301||18||8-8500136064, 1993 部品編301||18||9-9300183231, 1995 試験方法・オプトエレクトロニクス編301||18||8-9500194853

    OPAC

  • 東京農業大学 農学部図書館図

    2002 1.試験R509.13||J54||2002-2101005058, 2002 2.オプトエレクトロニクスR509.13||J54||2002-2201005059, 2001 3:部品編R509.13||N71||2001-301004780

    OPAC

  • Tokyo University of Agriculture and Technology Koganei Library

    2001 1:試験編509/JN2180019011, 2001 2:オプトエレクトロニクス編509/JN2280019023, 2001 3:部品編509/JN2380019035

    OPAC

  • 東京理科大学 葛飾図書館葛図

    2015 1: 試験509.13||N 77||2015-2150016649, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N 77||2015-22-150016653, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N 77||2015-22-250016641

    OPAC

  • 東京理科大学 野田図書館野図

    1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||N 77||9360221633, 1993 部品編509.13||N 77||9360221609, 2001 3:部品編509.13||N 77||2001-2360288359, 2001 3:部品編509.13||N 77||2001-2360288359, 2003 3.部品509.13||N 77||2003-2360310981, 2003 2.オプトエレクトロニクス509.13||N 77||2003-2260310980, 2003 1.試験509.13||N 77||2003-2160310979, 2005 1: 試験509.13||N 77||2005-2160341258, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13||N 77||2005-2260341259, 2005 3: 部品509.13||N 77||2005-2360341260, 2018 1: 試験509.13||N 77||2018-2160465677, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N 77||2018-22-160465725, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N 77||2018-22-260465724, 2018 3-1: 部品509.13||N 77||2018-23-160465727, 2018 3-2: 部品509.13||N 77||2018-23-260465726

    OPAC

  • 東邦大学 習志野メディアセンター

    1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編1000105138, 1998 部品編1000105146

    OPAC

  • Institute for Materials Research Library, Tohoku University

    2013 1: 試験05130004546, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス05130004554, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス05130004562, 2013 3-1: 部品05130004571, 2013 3-2: 部品05130004589

    OPAC

  • 東北大学 電気通信研究所 図書室

    2008 2-1 : オプトエレクトロニクス06080010783, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクス06080010791, 2009 1: 試験06090007820, 2009 3-1: 部品06090007838, 2009 3-2: 部品06090007846

    OPAC

  • Tohoku Univ. Main Library本館

    198700870363650

    OPAC

  • Tokushima University Library

    1984549.072||JI||'84008404023, 1987549.072||JI||'87008801455, 1989549.072||JI||'89008906570, 1992: 試験方法・オプトエレクトロニクス編549.072||JI||'92009200359, 1992: 部品編549.072||JI||'92009200360, 1995:試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||JI||'95009503751, 1995:部品編509.13||JI||'95009503761, 1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||Ji||'98298903314, 1998 部品編509.13||Ji||'98298903315, 1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||Ji||'99299904279, 1999 部品編509.13||Ji||'99299904280

    OPAC

  • 徳山工業高等専門学校 図書館

    1985509.1/J47/1985850049, 1990509.1/J47/1990902454, 1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.1/J47/1991910149, 1991 部品編509.1/J47/1991910150, 1999 部品編509.1/J47/1999000281, 2002 1.試験509.1/J47/2002020093, 2002 2.オプトエレクトロニクス509.1/J47/2002020091, 2002 3.部品509.1/J47/2002020092, 2005 1: 試験509.1/J47/2005040958, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.1/J47/2005040959, 2005 3: 部品509.1/J47/2005040960

    OPAC

  • 富山県立大学 附属図書館 射水館

    2011 1: 試験101712842, 2011 2-1: オプトエレクトロニクス101712859, 2011 2-2: オプトエレクトロニクス101712867, 2011 3-1: 部品101712875

    OPAC

  • 富山高等専門学校 図書館情報センター射水

    1978549.03||J56||7810030579, 2002 1: 試験509.13||J54||02=2110060970, 2002 2: オプトエレクトロニクス509.13||J54||02=2210060971

    OPAC

  • 富山高等専門学校 図書館情報センター本郷

    19711000326056, 19771000610582, 19831000611580

    OPAC

  • University of Toyama Library, Central Library図

    1976549.036||J56||7611900397811

    OPAC

  • University of Toyama Library, Central Library工室

    1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編549.072||J56||99=131002389, 1999 部品編549.072||J56||99=231002390

    OPAC

  • 豊田工業高等専門学校 図書館

    1998 部品編509.13||N5031767

    OPAC

  • 独立行政法人 労働安全衛生総合研究所 (登戸地区図書館)登戸図

    2005 1: 試験509.13||N||2005-21B010029, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13||N||2005-22B010030, 2005 3: 部品509.13||N||2005-23B010031

    OPAC

  • 独立行政法人国立高等専門学校機構 香川高等専門学校 高松キャンパス 図書館

    1991: 部品編509.13||N77||19912008718

    OPAC

  • 独立行政法人国立高等専門学校機構 香川高等専門学校 詫間キャンパス 図書館

    2007 3-2: 部品509.13||J 54||23-2976512, 2009 1: 試験509.13||J 54||21978422, 2009 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||J 54||22-1978423, 2009 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||J 54||22-2978424, 2009 3-1: 部品509.13||J 54||23-1978425

    OPAC

  • 長崎総合科学大学 附属図書館

    1977540.3||N779005614, 1978549.03||N779004037, 1982549.03||NI9019797, 1983549.03||NI9004350, 1985549.03||NI9004301, 1988549.03||NI9070631, 1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編549.03||NI9403702, 1994 部品編549.03||NI9403703, 1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編549.03||NI9804724, 1998 部品編549.03||NI9804725, 2004 1:試験549.03||NI0400423, 2004 2:オプトエレクトロニクス549.03||NI0400424, 2004 3:部品549.03||NI0400425

    OPAC

  • Nagasaki University Library Central Library

    1985509.13||84-851330265, 1988509.13||85||881379088, 1989509.13||85||891383098, 1994: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||94||81806030, 1994: 部品編509.13||94||91806031, 2002 1: 試験509.13||2002||211821722, 2002 2: オプトエレクトロニクス509.13||2002||221821723, 2002 3: 部品509.13||2002||231821724, 2008 1: 試験509.13||J54||2008-211528231, 2008 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||J54||2008-22-11528232, 2008 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||J54||2008-22-21528233, 2008 3-1: 部品509.13||J54||2008-23-11528234, 2008 3-2: 部品509.13||J54||2008-23-21528235

    OPAC

  • 長野工業高等専門学校 図書館

    2011:1試験編509.13||J 54||'1120054176, 2011:2-1 オプトエレクトロニクス編509.13||J 54||'1120054177, 2011:2-2オプトエレクトロニクス編509.13||J 54||'1120054178, 2011:3-1部品編509.13||J 54||'1120054179, 2011:3-2部品編509.13||J 54||'1120054180, 2011:2-1 オプトエレクトロニクス編509.13||J 54||'1120054177, 2011:2-2オプトエレクトロニクス編509.13||J 54||'1120054178

    OPAC

  • Kyoto University Library

    2002 1:試験549.036||J 54||1, 2002 2:オプトエレクトロニクス549.036||J 54||2, 2002 3.部品549.036||J 54||3, 2005 1: 試験549.036||J 54||1, 2005 2: オプトエレクトロニクス549.036||J 54||2, 2005 3: 部品549.036||J 54||3

    OPAC

  • 名古屋市立大学 総合情報センター 山の畑分館

    1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||Ni||8-9740657459, 1997 部品編509.13||Ni||9-9740657468

    OPAC

  • Nagoya Women's University Libraries

    1980549/105/S.5500118971, 1983549/105/S.5800140231

    OPAC

  • Nagoya University Library経済

    1984501.7||N71||D-198410925363

    OPAC

  • Nagoya University Library工中央開架

    1980549||J10820067

    OPAC

  • Nagoya University Library工電気情報

    1991 部品編509.13||N11084569

    OPAC

  • Nagoya University Library医保健参考

    OPAC

  • 奈良県立図書情報館一般

    2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13-ニホン111317834, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13-ニホン111317835, 2018 1: 試験509.13-ニホン111330912, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13-ニホン111330895, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13-ニホン111330896, 2018 3-1: 部品509.13-ニホン111330897, 2018 3-2: 部品509.13-ニホン111330898

    OPAC

  • 奈良工業高等専門学校 図書館

    2003 1.試験509.1||ニ0089409, 2003 2.オプトエレクトロニクス509.1||ニ0089410, 2003 3.部品509.1||ニ0089411

    OPAC

  • 鳴門教育大学 附属図書館

    2002 オプトエレクトロニクス509.13||J54||02-2270449124, 2002 部品509.13||J54||02-2370449240

    OPAC

  • 新潟経営大学 図書館図

    2003-10044869, 2003-20044962, 2003-30044870

    OPAC

  • Niigata Institute of Technology Library

    2005 1: 試験R549||N 71||2005-1549/N 71/2005-10037751000037751, 2005 2: オプトエレクトロニクスR549||N 71||2005-2549/N 71/2005-20037752000037752, 2005 3: 部品R549||N 71||2005-3549/N 71/2005-30037753000037753, 2007 1: 試験R549/N 71/2007-1000029712, 2007 2-1: オプトエレクトロニクスR549/N 71/2007-2-1000029713, 2007 3-1: 部品R549/N 71/2007-3-1000029715, 1995 試験方法・オプトエレクトロニクス編549/J54/95000023975, 1995 部品編549/J54/95000023976, 2001 1:試験編549||N71||2001-13000424, 2001 2:オプトエレクトロニクス編549||N71||2001-23000425, 2001 3:部品編549||N71||2001-33000419, 2007 2-2:オプトエレクトロニクスR549/N 71/2007-2-2000029714, 2007 3-2:部品R549/N 71/2007-3-2000029716

    OPAC

  • Niigata University Library図

    1979509.13//N71//19791051383165, 1982509.13//N71//19821041399762, 1984509.13//N71//19841084040397, 1985509.13//N71//19851085026368

    OPAC

  • 西日本工業大学 図書館

    1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13/NI/C2011:0081770

    OPAC

  • Japan Women's University Library図書館

    2008 1: 試験2339495, 2008 2-1 : オプトエレクトロニクス2339494, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクス2339493, 2008 3-1 : 部品2339492, 2008 3-2 : 部品2339491

    OPAC

  • 日本大学 工学部図書館図

    1981R509.13||J54||(81-8)J8102700, 1982R509.13||J54||(82-8)J8201862, 1986R509.13||J54||(86-8)J8602577, 1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509.13||J54||(91-8)J9101493, 1991 部品編R509.13||J54||(91-9)J9101480, 2010 1 試験編R509.13||J54||(010-21)J1000339, 2010 2-1 オプトエレクトロニクス編R509.13||J54||(010-22-1)J1000340, 2010 2-2 オプトエレクトロニクス編R509.13||J54||(010-22-2)J1000341, 2010 3-1 部品編R509.13||J54||(010-23-1)J1000342, 2010 3-2 部品編R509.13||J54||(010-23-2)J1000343, 2011 1 試験編R509.13||J54||(011-21)J1100238, 2011 2-1 オプトエレクトロニクス編R509.13||J54||(011-22-1)J1100239, 2011 2-2 オプトエレクトロニクス編R509.13||J54||(011-22-2)J1100240, 2011 3-1 部品編R509.13||J54||(011-23-1)J1100241, 2011 3-2 部品編R509.13||J54||(011-23-2)J1100242, 2012 1 試験編R509.13||J54||(012-21-1)J1200218, 2012 2-1 オプトエレクトロニクスR509.13||J54||(012-22-1)J1200219, 2012 2-2 オプトエレクトロニクスR509.13||J54||(012-22-2)J1200220, 2012 3-1 部品編R509.13||J54||(012-23-1)J1200221, 2012 3-2 部品編R509.13||J54||(012-23-2)J1200222

    OPAC

  • 日本大学 文理学部図書館中

    1971R549.03||N77||197112840486

    OPAC

  • 日本大学 文理学部図書館参

    1990R549.03||N77||199013992658

    OPAC

  • 日本大学 理工学部図書館 (駿河台)理工駿

    1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編501.7||J 54||8||R93-1894, 1993 部品編501.7||J 54||9||R93-1895, 1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編501.7||J 54||8||R94-1035, 1994 部品編501.7||J 54||9||R94-1036

    OPAC

  • 沼津工業高等専門学校 図書館

    2013 1: 試験509.13||*||*JISS14014, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||*||*JISS14015, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||*||*JISS14016, 2013 3-1: 部品509.13||*||*JISS14017, 2013 3-2: 部品509.13||*||*JISS14018

    OPAC

  • Agriculture, Forestry and Fisheries Research Information Technology Center (AFFRIT)

    1981500||Jis||8-19817162, 1987500||Jis||8-19870022376, 2003 1 : 試験500||Jis||21-2003024846, 2003 2 : オプトエレクトロニクス500||Jis||22-2003024847, 2003 3 : 部品500||Jis||23-2003024848, 2008 1: 試験500||Jis||21-2008025708, 2008 2-1 : オプトエレクトロニクス500||Jis||22-2008025709, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクス500||Jis||22-2008025710, 2008 3-1 : 部品500||Jis||23-2008025711, 2008 3-2 : 部品500||Jis||23-2008025712, 2012 1: 試験R500||Jis||21-2012026860, 2012 2-1: オプトエレクトロニクスR500||Jis||22-1-2012026861, 2012 2-2: オプトエレクトロニクスR500||Jis||22-2-2012026862, 2012 3-1: 部品R500||Jis||23-1-2012026863, 2012 3-2: 部品R500||Jis||23-2-2012026864

    OPAC

  • 八戸工業大学 図書館

    1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13-N-'97005185, 1997 部品編509.13-N-'97005186, 1999 部品編509.13-N-'99045742, 1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13-N-'99045769

    OPAC

  • Himeji Dokkyo University Library図

    2005 1: 試験261531, 2005 2: オプトエレクトロニクス261532, 2005 3: 部品261533

    OPAC

  • 兵庫県立大学 神戸情報科学学術情報館

    2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.1||2||22-1/15610015214, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.1||2||22-2/15610015215

    OPAC

  • 兵庫県立大学 姫路工学学術情報館図

    1971549||1971||0387110055886, 1986549||1986||0387110131165

    OPAC

  • Hirosaki University Library本館

    1976549||J5490745001, 1998 部品編549.07/D59/'9850172338

    OPAC

  • 広島国際大学 図書館 呉分館呉図

    2001 3:部品編R549||J||2001-330161102

    OPAC

  • 広島市立大学 附属図書館

    1995 試験方法・オプエレクトロニクス編R509.13ニホ95-80000556552, 1995 部品編R509.13ニホ95-90000556569, 1996 試験方法・オプエレクトロニクス編R509.13ニホ96-80000980449, 1996 部品編R509.13ニホ96-90000980456, 1997 試験方法・オプエレクトロニクス編R509.13ニホ97-80001541823, 1997 部品編R509.13ニホ97-90001541830, 1998 試験方法・オプエレクトロニクス編R509.13ニホ98-80001576313, 1998 部品編R509.13ニホ98-90001576320, 1999 試験方法・オプエレクトロニクス編R509.13ニホ99-80002006697, 1999 部品編R509.13ニホ99-90002006703, 2001 1:試験編R509.13ニホ01-210002404745, 2001 2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ01-220002404752, 2001 3:部品編R509.13ニホ01-230002404769, 2002 1:試験編R509.13ニホ02-210002513362, 2002 2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ02-220002513232, 2002 3:部品編R509.13ニホ02-230002513355, 2003 1:試験編R509.13ニホ03-210002549347, 2003 2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ03-220002549354, 2003 3:部品編R509.13ニホ03-230002550268, 2004 1:試験編R509.13ニホ04-210002581200, 2004 2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ04-220002581217, 2004 3:部品編R509.13ニホ04-230002581224, 2005 1:試験編R509.13ニホ05-210002595948, 2005 2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ05-220002595955, 2005 3:部品編R509.13ニホ05-230002595962, 2006 1:試験編R509.13ニホ06-210000829762, 2006 2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ06-220000829779, 2006 3:部品編R509.13ニホ06-230000829786, 2007 1:試験編R509.13ニホ07-210002864884, 2007 2-1:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ07-22-10002864891, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ07-22-20002864907, 2007 3-1:部品編R509.13ニホ07-23-10002864914, 2007 3-2:部品編R509.13ニホ07-23-20002864921, 2009 1:試験編R509.13ニホ09-210000443005, 2009 2-1:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ09-22-10000443012, 2009 2-2:オプトエレクトロニクス編R509.13ニホ09-22-20000443029, 2009 3-1:部品編R509.13ニホ09-23-10000443036, 2009 3-2:部品編R509.13ニホ09-23-20000443043

    OPAC

  • Hiroshima University Central Library, Interlibrary Loan

    1983007.6:N-71:(デンシ)/HL0113020130006734, 19890130040969, 1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13:N-71/HL6002006030058957, 1992 部品編509.13:N-71/HL6002006030058958

    OPAC

  • 広島大学 図書館 東図書館

    1980549:J6500049116, 1983JIS:83-8/HL0142006030015585, 1995: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13:N-71/HL0141006030401007, 1995: 部品編509.13:N-71/HL0141006030401012, 1996: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13:N-71/HL0141006030402423, 1996: 部品編509.13:N-71/HL0141006030402422, 2001 1: 試験編509.13:N-71:21/HL0141000130457701, 2001 2: オプトエレクトロニクス編509.13:N-71:2/HL0141000130457702, 2001 3: 部品編509.13:N-71:23/HL0141000130457703, 2005 1: 試験509.13:N-71:210130515148, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13:N-71:220130515149, 2005 3: 部品509.13:N-71:230130515150

    OPAC

  • 福井工業高等専門学校 図書館

    1994: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.1||JISB072227, 1994: 部品編509.1||JISB072228

    OPAC

  • 福井大学 附属図書館

    1974509.13||NIP7403558, 1976509.13||NIP7601589, 1978509.137803265, 1981509.138106196

    OPAC

  • University of Teacher Education Fukuoka Library図

    1982549.03||J54||821380223507, 1986549.03||N71||86064031186034887, 1989549.03||N71||89064031189064542

    OPAC

  • 福岡工業大学 附属図書館図書館

    1977R503.6/N40441677, 1980549.036/N40527050, 1981R549.034/N40557546, 1982R549.034/N40587172, 1984R549.034/N40638702, 1987549/N770812598, 1989R549/N770986115, 1991 : 部品編509.13/N771115071, 1992 : 試験方法・オプトエレクトロニクス編549.072/N771177425, 1992 : 部品編509.13/N771182615, 1993 : 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509.13/N771246357, 1993 : 部品編509.13/N771244023, 1995 : 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509.13/N1383003, 1995 : 部品編R509.13/N1383015, 1998 : 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509.13/N1523203, 2001 1 : 試験編R509.13/N1626710, 2001 2 : オプトエレクトロニクス編R509.13/N1626722, 2001 3 : 部品編R509.13/N1626734

    OPAC

  • Fukushima University Library

    197100647096, 197900523875, 198000523941, 1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編19107457, 1991 部品編19107458

    OPAC

  • 福山大学 附属図書館

    2008 1: 試験509.13||N||2008110801937, 2013 1: 試験509.13||N||21(2013)111301646, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N||22-1(2013)111301647, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N||22-2(2013)111301648, 2013 3-1: 部品509.13||N||23-1(2013)111301649, 2013 3-2: 部品509.13||N||23-2(2013)111301650, 2008 2-1 : オプトエレクトロニクス509.13||N||2008110801938, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクス509.13||N||2008110801980, 2008 3-1 : 部品509.13||N||2008110802047, 2008 3-2 : 部品509.13||N||2008110801981

    OPAC

  • 藤田医科大学 図書館

    1000693116

    OPAC

  • 放送大学 附属図書館

    1987549||J 54||'8711188360

    OPAC

  • 北陸先端科学技術大学院大学 附属図書館図

    1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509 ||J54 ||94-81931447, 1994 部品編R509 ||J54 ||94-91931474

    OPAC

  • 北陸先端科学技術大学院大学 附属図書館研究科

    1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509 ||J54 ||7-89970252, 1997 部品編R509 ||J54 ||7-99970253

    OPAC

  • Hokkai-Gakuen University工

    2007 1: 試験509.13/JIS0564440, 2007 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/JIS0564441, 2007 3-1: 部品509.13/JIS0564443, 2015 1: 試験509.13/JIS0843010, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/JIS0843011, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13/JIS0843012, 1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13/JIS0466199, 1992 部品編509.13/JIS0466200, 1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13/JIS0466239, 1996 部品編509.13/JIS0466240, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス509.13/JIS0564442, 2007 3-2:部品509.13/JIS0564444, 1976509.13/JIS0824700, 1985509.13/JIS0824701, 1987509.13/JIS0824702, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス509.13/JIS0985399, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス509.13/JIS0985400, 2018 3-1: 部品509.13/JIS0985401, 2018 3-2: 部品509.13/JIS0985402, 2018 1: 試験509.13/JIS0985403

    OPAC

  • Hokkaido University, Faculty and Graduate School of Engineering図書

    1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編600/JIS3590011895, 1997 部品編600/JIS3590011907, 2003 1.試験608/JIS3590110771, 2003 2.オプトエレクトロニクス608/JIS3590110782, 2003 3.部品608/JIS3590110793

    OPAC

  • Hokkaido University, Library, Faculty of Fisheries Sciences, Graduate School of Fisheries Sciences, School of Fisheries Sciences図書

    1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編NDC7:509.13/J566290000205, 1991 部品編NDC7:509.13/J566290000216

    OPAC

  • 北海道大学 大学院農学研究科図書室研究室

    1979620.1/NIP4010966530

    OPAC

  • 北海道大学 附属図書館図

    1974dc16:620/jis0111397770

    OPAC

  • 北海道文教大学 鶴岡記念図書館図

    2003 2.オプトエレクトロニクス100038790

    OPAC

  • 北海道教育大学 附属図書館 釧路館

    1977509.13/NI/8-1977611091651

    OPAC

  • 北海道情報大学 図書館

    1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編019114716, 1991 部品編019114717

    OPAC

  • 前橋工科大学 附属図書館

    1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編54900023460, 1993 部品編54900023461, 1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編54910012795, 1997 部品編54910012796, 2002 1.試験54910026382, 2002 2.オプトエレクトロニクス54910026383, 2003 1.試験54910028837, 2003 2.オプトエレクトロニクス54910028800, 2003 3.部品54910028853, 2004 1:試験54910033124, 2004 2:オプトエレクトロニクス54910033119, 2004 3:部品54910033120

    OPAC

  • 松江工業高等専門学校 図書館

    2003 1.試験S18604, 2003 2.オプトエレクトロニクスS18605, 2008 1: 試験S23885, 2008 2-1 : オプトエレクトロニクスS23886, 2008 2-2 : オプトエレクトロニクスS23887, 2008 3-1 : 部品S23888, 2008 3-2 : 部品S23889

    OPAC

  • 松山大学 図書館

    2005 1: 試験509.13036||J 27||2005-21211590013, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13036||J 27||2005-22211590024, 2005 3: 部品509.13036||J 27||2005-23211590035

    OPAC

  • Mie Univ. Library

    1971501.7/J 11/'7129451089, 1980501.7/J 11/'8029386186, 1981501.7/J 11/81817506, 1987501.7/J 11/878703441, 1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編5017/J/8.9369303498, 1993 部品編5017/J/9.9369303499, 2002 1:試験501.7/J 11/21.2002/R70113906, 2002 2:オプトエレクトロニクス501.7/J 11/22.2002/R70113907, 2002 3.部品501.7/J 11/23.2002/R70200618

    OPAC

  • 都城工業高等専門学校 図書館

    19818103766500004

    OPAC

  • University of Miyazaki Library/ Library Director:Ikari Tetsuo図

    1987509.13||N71||198721912628

    OPAC

  • Muroran Institute of Technology Library図

    1971509.13||N71||工業規格079734, 1976509.13||N71||工業規格099113, 1977509.13||N71||工業規格109743, 1984509.13||N71||工業規格005357, 2003 1: 試験509.13||N71||工業規格827391, 2003 2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||工業規格827392, 2003 3: 部品509.13||N71||工業規格827393, 2010 1: 試験509.13||N71||工業規格840164, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||工業規格840165, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||工業規格840166, 2010 3-1: 部品509.13||N71||工業規格840167, 2010 3-2: 部品509.13||N71||工業規格840168

    OPAC

  • Meiji University Library生

    1979R509||66||||S7917432, 1980501||96||B||K8019772, 1986R509||66||||S18606465, 1989501||96||ZE||K18933720, 1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編R509||66||||S19811769, 1998: 部品編R509||66||||S19811770, 2001 1: 試験編R509||66||||S1200100887, 2001 2: オプトエレクトロニクス編R509||66||||S1200100888, 2001 3: 部品編R509||66||||S1200100889, 2002 1: 試験R509||66||||S1200126301, 2002 2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200126302, 2002 3: 部品R509||66||||S1200201179, 2003 1: 試験R509||66||||S1200236265, 2003 2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200236266, 2003 3: 部品R509||66||||S1200236267, 2004 1: 試験R509||66||||S1200400244, 2004 2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200400245, 2004 3: 部品R509||66||||S1200400246, 2005 1: 試験R509||66||||S1200424860, 2005 2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200424861, 2005 3: 部品R509||66||||S1200424862, 2006 1: 試験R509||66||||S1200611969, 2006 2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200611970, 2006 3: 部品R509||66||||S1200611971, 2007 1: 試験R509||66||||S1200711934, 2007 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200711935, 2007 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200711936, 2007 3-1: 部品R509||66||||S1200711937, 2007 3-2: 部品R509||66||||S1200711938, 2008 1: 試験R509||66||||S1200815124, 2008 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200815125, 2008 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200815126, 2008 3-1: 部品R509||66||||S1200815127, 2008 3-2: 部品R509||66||||S1200815128, 2009 1: 試験R509||66||||S1200907544, 2009 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200907545, 2009 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1200907546, 2009 3-1: 部品R509||66||||S1200907547, 2009 3-2: 部品R509||66||||S1200907548, 2010 1: 試験R509||66||||S1201007233, 2010 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201007234, 2010 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201007235, 2010 3-1: 部品R509||66||||S1201007236, 2010 3-2: 部品R509||66||||S1201007237, 2011 1: 試験R509||66||||S1201107128, 2011 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201107129, 2011 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201107130, 2011 3-1: 部品R509||66||||S1201107131, 2011 3-2: 部品R509||66||||S1201107132, 2012 1: 試験R509||66||||S1201212435, 2012 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201212436, 2012 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201212437, 2012 3-1: 部品R509||66||||S1201212438, 2012 3-2: 部品R509||66||||S1201212439, 2013 1: 試験R509||66||||S1201310046, 2013 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201310047, 2013 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201310048, 2013 3-1: 部品R509||66||||S1201310049, 2013 3-2: 部品R509||66||||S1201310050, 2014 1: 試験R509||66||||S1201408562, 2015 1: 試験R509||66||||S1201508318, 2015 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201508304, 2015 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201508305, 2018 1: 試験R509||66||||S1201808555, 2018 2-1: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201808556, 2018 2-2: オプトエレクトロニクスR509||66||||S1201808557, 2018 3-1: 部品R509||66||||S1201808558, 2018 3-2: 部品R509||66||||S1201808559

    OPAC

  • 明星大学 日野校舎図書館日野

    1978549||J54||'78800777467, 2004 1:試験509.13||J54||2004-21803516746, 2004 2:オプトエレクトロニクス509.13||J54||2004-22803516754, 2004 3:部品509.13||J54||2004-23803516762, 2005 1: 試験509.13||J54||2005-21804137243, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13||J54||2005-22804137251, 2005 3: 部品509.13||J54||2005-23804137260

    OPAC

  • Insutitute of Technologists Library図情セ

    2005 1: 試験509.13/N71/05-100026683, 2005 2: オプトエレクトロニクス509.13/N71/05-200026685, 2005 3: 部品509.13/N71/05-300026687, 2009 1: 試験R509.13/N71/09-100032805, 2009 2-1: オプトエレクトロニクスR509.13/N71/09-2-100032806, 2009 2-2: オプトエレクトロニクスR509.13/N71/09-2-200032807, 2009 3-1: 部品R509.13/N71/09-3-100032808, 2009 3-2: 部品R509.13/N71/09-3-200032809

    OPAC

  • Engineering Library of Yamagata University

    1981719013015, 1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編719600077, 1996 部品編719600078, 2001 1:試験編710000981, 2001 2:オプトエレクトロニクス編710000982, 2001 3:部品編710000983

    OPAC

  • 山口大学 図書館 工学部図書館

    2014 21-1 試験509.13/J47/20142214017920, 2015 21-1 試験509.13/N71/20152217015560, 2015-2-1 オプトエレクトロニクス509.13/N71/20152217015629, 2015 2-2 オプトエレクトロニクス509.13/N71/20152217016030

    OPAC

  • 山口大学 図書館 工学部図書館工分館

    2005 1:試験509.13/J47/20052204031972, 2005 2:オプトエレクトロニクス509.13/J47/20052204031983, 2005 3:部品509.13/J47/20052204031994, 2008 1:試験509.13/J47/20082208002192, 2008 2-1:オプトエレクトロニクス509.13/J47/20082208002206, 2008 2-2:オプトエレクトロニクス509.13/J47/20082208002217, 2008 3-1:部品509.13/J47/20082208002228, 2008 3-2:部品509.13/J47/20082208002239

    OPAC

  • The University of Yamanashi Library

    1993: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.131930014469, 1993: 部品編509.131930014470

    OPAC

  • 横浜国立大学 附属図書館

    1979501.7||NIJ05639204, 1989509.13||NI02143374, 1991: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||DE02685552, 2012 1: 試験509.13||JI12600631, 2012 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||JI12600643, 2012 3-1: 部品509.13||JI12600667, 2012 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||JI12600655, 2012 3-2: 部品509.13||JI12600670, 2015 1: 試験509.13||JI13018664, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||JI13017243, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||JI13017255

    OPAC

  • Rikkyo University Library

    197879-01289, 198989-12823, 2001 1.試験編52067481, 2001 2.オプトエレクトロニクス編52067482, 2001 3.部品編52067483

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  • Ritsumeikan University Main Library

    1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編7310362743

    OPAC

  • 琉球大学 附属図書館

    1974549.036||J54||1974AA206877, 1982549.036||NI||1982AA299946,0000502188238, 1986549.036||NI||198686011137,0000502191000, 1987549.036||NI||198787016136,0000502191014, 1989549.036||NI||198989004899,0060890004221

    OPAC

  • 琉球大学 附属図書館参考

    2001 1:試験編R509.13||NI||212001006655, 2001 3:部品編R509.13||NI||232001006654, 2002 2:オプトエレクトロニクスR509.13||NI||20022002001460

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  • 龍谷大学 瀬田図書館図

    2013 1: 試験31310004762, 2013 2-1: オプトエレクトロニクス31310004330, 2013 2-2: オプトエレクトロニクス31310004341, 2013 3-1: 部品31310004352, 2013 3-2: 部品31310004363, 2014 1: 試験31410003648, 2015 1: 試験31510002764, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス31510002775, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス31510002786, 2018 1: 試験31810003740, 2018 2-1: オプトエレクトロニクス31810003751, 2018 2-2: オプトエレクトロニクス31810003762, 2018 3-1: 部品31810003773, 2018 3-2: 部品31810003784

    OPAC

  • 和歌山大学 附属図書館

    1971119890095670, 1980119890095684, 1995 試験方法119950011439, 1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編119990009612

    OPAC

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Note

2001年度より試験方法・オプトエレクトロニクス編が分冊化

2001年度よりシリーズ巻号表示: 21, 22, 23巻

Description and Table of Contents

Volume

1990 ISBN 9784542120808

Description

原則として平成２年３月までに制定・改正された電子関係のＪＩＳを収録したものです。

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • ＣＲ複合部品・水晶振動子
  • 変成器
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 導波管及びフランジ
  • 機構部品
  • 電子管
  • 半導体
  • オプトエレクトロニクス
  • 信頼性
Volume

1986 ISBN 9784542120860

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • ＣＲ複合部品・水晶振動子
  • 磁性部品・変成器
  • 接続部品
  • 印刷配線板
  • 導波管及びフランジ
  • 機構部品
  • 電子管
  • 半導体
  • 信頼性
Volume

1987 ISBN 9784542120877

Description

ＪＩＳは、適正な内容を維持するために、５年ごとに見直しが行われ、改正、確認又は廃止の手続きがとられます。本書は原則として、昭和６２年３月までに制定・改正された電子関係のＪＩＳを収録したものです。

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • ＣＲ複合部品・水晶振動子
  • 磁性部品・変成器
  • 接続部品
  • 印刷配線板
  • 導波管及びフランジ
  • 機構部品
  • 電子管
  • 半導体
  • オプトエレクトロニクス
  • 信頼性
  • 参考
Volume

1989 ISBN 9784542120891

Description

ＪＩＳは、適正な内容を維持するために、５年ごとに見直しで行われ、改正、確認又は廃止の手続きがとられます。本書は原則として平成元年３月までに制定・改正された電子関係のＪＩＳを収録したものです。

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • ＣＲ複合部品・水晶振動子
  • 変成器
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 導波管及びフランジ
  • 機構部品
  • 電子管
  • 半導体
  • オプトエレクトロニクス
  • 信頼性
Volume

1991: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542126084

Description

ＪＩＳは、適正な内容を維持するために、５年ごとに見直しが行われ、改正、確認又は廃止の手続きがとられます。本書は、原則として平成３年２月までに制定・改正されたＪＩＳを収録しています。

Table of Contents

  • 試験方法（基本；コンデンサ；抵抗器；変成器；接続部品；プリント配線板；半導体）
  • オプトエレクトロニクス関係（オプトエレクトロニクス；レーザ安全；太陽電池）
Volume

1991: 部品編 ISBN 9784542126091

Description

ＪＩＳは、適正な内容を維持するために、５年ごとに見直しが行われ、改正、確認又は廃止の手続きがとられます。本書は、原則として平成３年２月までに制定・改正されたＪＩＳを収録しています。

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • 水晶振動子
  • 変成器
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 導波管及びフランジ
  • 電子管
  • 半導体
  • 信頼性
Volume

1992: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542126473

Description

ＪＩＳハンドブックは、原則として発行の年の２月末日現在におけるＪＩＳの中から当該分野に関係する主なＪＩＳを収集し、使いやすさを考慮して、内容抜粋等の編集を行ったものです。
Volume

1992: 部品編 ISBN 9784542126480

Description

このＪＩＳハンドブックは、原則として発行の年の２月末日現在におけるＪＩＳの中から当該分野に関係する主なＪＩＳを収集し、使いやすさを考慮して、内容抜粋等の編集を行ったものです。
Volume

1995: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542127746

Description

１９９５年現在の電子関連の主なＪＩＳ（日本工業規格）を抜粋したもの。

Table of Contents

  • 試験方法（基本；コンデンサ；抵抗器；変成器　ほか）
  • オプトエレクトロニクス関係（光受動部品；光能動部品；光コネクタ；光複合部品　ほか）
Volume

1995: 部品編 ISBN 9784542127753

Description

１９９５年現在の電子関連の主なＪＩＳ（日本工業規格）を抜粋したもの。
Volume

1996: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542128156

Description

１９９６年２月末日現在の電子関連の主なＪＩＳ（日本工業規格）のうち、試験方法、オプトエレクトロニクスに関する規格を抜粋したもの。

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • 変成器
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 半導体
  • 光受動部品
  • 光能動部品
  • 光コネクタ〔ほか〕
Volume

1996: 部品編 ISBN 9784542128163

Description

１９９６年２月末日現在の電子関連の主なＪＩＳ（日本工業規格）のうち、部品に関する規格を抜粋したもの。

Table of Contents

  • 本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • 水晶振動子
  • 変成器
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 半導体
  • 信頼性
  • 参考
Volume

1999: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542129467

Description

１９９９年２月末日現在における、電子関連の主なＪＩＳ（日本工業規格）のうち、試験方法、オプトエレクトロニクスに関する規格を抜粋したもの。１９９９年版。

Table of Contents

  • 試験方法（環境試験；電子部品；接続部品；プリント配線板；半導体）
  • オプトエレクトロニクス関係（光受動部品；光能動部品；光コネクタ；光複合部品；光ファイバ；光測定器；光ファイバ増幅器；レーザ安全；太陽電池）
Volume

2001 1: 試験編 ISBN 9784542170216

Description

本書は、２０００年１０月末日現在におけるＪＩＳの中から当該分野に関係する主なＪＩＳを収集し、利用者の要望等に基づき使いやすさを考慮し、必要に応じて内容の抜粋などを行ったハンドブックです。

Table of Contents

  • 環境試験
  • 電子部品
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 半導体
Volume

2001 2: オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542170223

Description

本書は、２０００年１０月末日現在におけるＪＩＳの中から当該分野に関係する主なＪＩＳを収集し、利用者の要望等に基づき使いやすさを考慮し、必要に応じて内容の抜粋などを行ったハンドブックです。

Table of Contents

  • 光受動部品
  • 光能動部品
  • 光コネクタ
  • 光複合部品
  • 光ファイバ
  • 光測定器
  • 光ファイバ増幅器
  • ＯＣＲ
  • 光ディスク
  • レーザ安全
  • 太陽電池
Volume

2001 3: 部品編 ISBN 9784542170230

Description

本書は、２０００年１０月末日現在におけるＪＩＳの中から当該分野に関係する主なＪＩＳを収集し、利用者の要望等に基づき使いやすさを考慮し、必要に応じて内容の抜粋などを行ったハンドブックです。

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • 水晶振動子
  • 変成器
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 半導体
Volume

2003 1: 試験 ISBN 9784542171619

Table of Contents

  • 環境試験
  • 電子部品
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 半導体部品
  • 参考
Volume

2003 2: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542171626

Table of Contents

  • 光受動部品
  • 光能動部品
  • 光コネクタ
  • 光複合部品
  • 光ファイバ
  • 光測定器
  • 光ファイバ増幅器
  • ＯＣＲ
  • 光ディスク
  • レーザ安全
  • 太陽電池
  • 参考
Volume

2003 3: 部品 ISBN 9784542171633

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • 水晶振動子
  • 変成器
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 半導体部品
  • 参考
Volume

2007 1: 試験 ISBN 9784542175051

Table of Contents

  • 環境試験
  • 環境条件の分類
  • 耐火性試験
  • 静電気試験
  • 参考
Volume

2007 2-1: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542175068

Table of Contents

  • 光受動部品
  • 光能動部品
  • 光コネクタ
  • 光複合部品
  • 光ファイバ
  • 光測定器
  • 光増幅器
  • 参考
Volume

2007 3-1: 部品 ISBN 9784542175075

Table of Contents

  • 基本
  • コンデンサ
  • 抵抗器
  • 水晶振動子
  • 変成器・インダクタ
  • 参考
Volume

2007 2-2: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542175730

Table of Contents

  • ＯＣＲ
  • 光ディスク
  • レーザ安全
  • 太陽電池
  • 参考
Volume

2007 3-2: 部品 ISBN 9784542175747

Table of Contents

  • 電子部品
  • 接続部品
  • プリント配線板
  • 実装技術
  • 半導体
  • 参考
Volume

2014 1: 試験 ISBN 9784542182240

Table of Contents

  • 環境試験
  • 環境条件
  • 耐火性試験
  • 静電気試験
  • 参考
Volume

2015 1: 試験 ISBN 9784542183209

Table of Contents

  • 環境試験
  • 環境条件
  • 耐火性試験
  • 静電気試験
  • 参考
Volume

2015 2-1: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542183216

Table of Contents

  • 光受動部品及び光コネクタ試験方法
  • 光受動部品
  • 光コネクタ
  • 光能動部品
  • 光複合部品
  • 参考
Volume

2015 2-2: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542183223

Table of Contents

  • 光増幅器
  • 光ファイバ
  • 光ファイバ通信サブシステム
  • 光測定器
  • レーザ安全
  • 参考

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Details

  • NCID
    BN01115284
  • ISBN
    • 4542120856
    • 4542120864
    • 4542120872
    • 4542120899
    • 4542120805
    • 4542126080
    • 4542126099
    • 4542126471
    • 454212648X
    • 4542126889
    • 4542126897
    • 454212732X
    • 4542127338
    • 4542127745
    • 4542127753
    • 4542128156
    • 4542128164
    • 454212858X
    • 4542128598
    • 4542129012
    • 4542129020
    • 4542129462
    • 4542129470
    • 4542170217
    • 4542170225
    • 4542170233
    • 4542170896
    • 454217090X
    • 4542170918
    • 4542171612
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    • 4542173259
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    • 9784542175051
    • 9784542175068
    • 9784542175730
    • 9784542175075
    • 9784542175747
    • 9784542176010
    • 9784542176027
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    • 9784542176041
    • 9784542176058
    • 9784542176973
    • 9784542176980
    • 9784542176997
    • 9784542177000
    • 9784542177017
    • 9784542177925
    • 9784542177932
    • 9784542177949
    • 9784542177956
    • 9784542177963
    • 9784542178878
    • 9784542178885
    • 9784542178892
    • 9784542178908
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    • 9784542180284
    • 9784542180291
    • 9784542180307
    • 9784542180314
    • 9784542181267
    • 9784542181274
    • 9784542181281
    • 9784542181298
    • 9784542181304
    • 9784542182240
    • 9784542183209
    • 9784542183216
    • 9784542183223
    • 9784542186354
    • 9784542186361
    • 9784542186378
    • 9784542186385
    • 9784542186392
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    冊
  • Size
    21cm
  • Classification
  • Subject Headings
  • Parent Bibliography ID
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