論理とテスト

著者

• 樹下, 行三 キノシタ, コウゾウ
• 浅田, 邦博 アサダ, クニヒロ
• 唐津, 修 カラツ, オサム

書誌事項

論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]

（岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編, 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2）

岩波書店, 1985.5

タイトル読み

ロンリ ト テスト

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• 岩波講座マイクロエレクトロニクス

  4 1985

  NDLデジタルコレクション

  限定公開

注記

参考書: p303-305

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN00059257
• ISBN:
  • 4000101846
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: x, 313p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 549
  • NDC8 : 549.08
  • NDC7 : 549.92
  • NDLC : ND351
  • NDLC : ND386
• 件名:
  • NDLSH : 集積回路
• 親書誌ID:
  • BN00015819