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(JISハンドブック / 日本規格協会編, 8-9,
日本規格協会, 1971.5-
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- 1991: 部品編
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- 1992: 部品編
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- 1993: 部品編
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- 1994: 部品編
- 1995: 試験方法・オプトエレクトロニクス編
- 1995: 部品編
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- 1997: 部品編
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- 2005 3: 部品
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- 2006 2: オプトエレクトロニクス
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1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編UG085134O,
1998: 部品編509.13/NUG085135P, 1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13/NUG085134O, 1998: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13/NUG085134O -
2001 1.試験編00014825,
2001 2.オプトエレクトロニクス編00014826, 2001 3.部品編00014827, 2002 1.試験00130978, 2002 2.オプトエレクトロニクス00130979, 2002 3.部品00140878, 2006 1: 試験10128658, 2006 2: オプトエレクトロニクス10128659, 2006 3: 部品10128660 OPAC
-
2002 3.部品3008053,
2004 1:試験3008734, 2004 2:オプトエレクトロニクス3008735, 2004 3:部品3008736, 2007 1: 試験509.13||G 21||Jisu3011088, 2007 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||G 22-1||Jisu3011089, 2007 3-1: 部品509.13||G 23-1||Jisu3011090, 2007 2-2:オプトエレクトロニクス509.13||G 22-2||Jisu3011112, 2007 3-2:部品509.13||G 23-2||Jisu3011113, 2013 電子21 試験509.13‖G21‖Jisu3015049, 2013 電子22-1 オプトエレクトロニクス509.13‖G22-1‖Jisu3015050, 2013 電子22-1 オプトエレクトロニクス5509.13‖G22-2‖Jisu3015051, 2013 電子23-1 部品509.13‖G23-1‖Jisu3015052, 2013 電子23-2 部品509.13‖G23-2‖Jisu3015053, 2015 電子21 試験509.13‖G21‖Jisu3016202, 2015 電子22-1 オプトエレクトロニクス509.13‖G22-1‖Jisu3016203, 2015 電子22-2 オプトエレクトロニクス509.13‖G22-2‖Jisu3016204 -
2005 1: 試験11028146,
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2007 1: 試験R509.13/N71/'07,210001718964,
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2003 1.試験R509.13:ジ:03-1300044385,
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宇宙航空研究開発機構 角田図書室JAXA/KAKUDA
1974621.3/N/12731273,
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1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編503.8-P2-91.82380008421,
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2015 1: 試験509.13||N71||2015.212016056208,
2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2015.22.12016056216, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||2015.22.22016056224 -
1971549033817,
2010 1: 試験509.13||||112038112038, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||||112039112039, 2010 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||||112040112040, 2010 3-1: 部品509.13||||112041112041, 2010 3-2: 部品509.13||||112042112042 -
1974427.15||N1-1||197410388779,
2002 1:試験509.13||ND19||2002-1112755796, 2002 2:オプトエレクトロニクス509.13||ND19||2002-211275580X -
2002 1.試験R509.13||J||02/2110106313,
2002 2.オプトエレクトロニクスR509.13||J||02/2210106314, 2002 3.部品R509.13||J||02/2310200075, 2003 1.試験R509.13||J||03/2110206876, 2003 2.オプトエレクトロニクスR509.13||J||03/2210206877, 2003 3.部品R509.13||J||03/2310206878, 2004 1:試験R509.13||J||04/2110400017, 2004 2:オプトエレクトロニクスR509.13||J||04/2210400018, 2004 3:部品R509.13||J||04/2310400019 -
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岡山大学 附属図書館附属図
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2005 2: オプトエレクトロニクスS509/J016000362056, 2005 3: 部品S509/J016000362057, 2009 1: 試験S509/J016000407990, 2009 2-1: オプトエレクトロニクスS509/J016000407991, 2009 2-2: オプトエレクトロニクスS509/J016000407992, 2009 3-1: 部品S509/J016000407993, 2009 3-2: 部品S509/J016000407994 -
1985100091375,
1987100107455, 1988100118371, 1989100131793, 1990100142355, 1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編100165743, 1993 部品編100172258, 1993 電子試験方法・ オプトエレクトロニクス編100172257, 1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編100210823, 1996 部品編100210745, 1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編100223488, 1997 部品編100223489 OPAC
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2009 1: 試験509.13||N71||210000000052333,
2009 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||22-10000000052334, 2009 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N71||22-20000000052335, 2009 3-1: 部品509.13||N71||23-10000000052336, 2009 3-2: 部品509.13||N71||23-20000000052337, 2010 1: 試験509.13||N71||210000000053191, 2010 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N71||22-10000000053192, 2010 3-1: 部品509.13||N71||23-10000000053193 -
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2006 1: 試験R||509.13||N77||'06-2100025372,
2006 2: オプトエレクトロニクスR||509.13||N77||'06-2200025373, 2006 3: 部品R||509.13||N77||'06-2300025374, 2013 3-1: 部品509.13||N77||'13-23-132007759, 2013 3-2: 部品509.13||N77||'13-23-232007767, 2015 1: 試験509.13||N77||'15-2132007755, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||N77||'15-22-132007764, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||N77||'15-22-232007765 -
2004 1:試験R509||Nip||2140023715,
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1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編719600077, 1996 部品編719600078, 2001 1:試験編710000981, 2001 2:オプトエレクトロニクス編710000982, 2001 3:部品編710000983 -
2014 21-1 試験509.13/J47/20142214017920,
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1979501.7||NIJ05639204,
1989509.13||NI02143374, 1991: 試験方法・オプトエレクトロニクス編509.13||DE02685552, 2012 1: 試験509.13||JI12600631, 2012 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||JI12600643, 2012 3-1: 部品509.13||JI12600667, 2012 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||JI12600655, 2012 3-2: 部品509.13||JI12600670, 2015 1: 試験509.13||JI13018664, 2015 2-1: オプトエレクトロニクス509.13||JI13017243, 2015 2-2: オプトエレクトロニクス509.13||JI13017255 -
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注記
2001年度より試験方法・オプトエレクトロニクス編が分冊化
2001年度よりシリーズ巻号表示: 21, 22, 23巻
内容説明・目次
- 巻冊次
-
1990 ISBN 9784542120808
内容説明
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- CR複合部品・水晶振動子
- 変成器
- 接続部品
- プリント配線板
- 導波管及びフランジ
- 機構部品
- 電子管
- 半導体
- オプトエレクトロニクス
- 信頼性
- 巻冊次
-
1986 ISBN 9784542120860
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- CR複合部品・水晶振動子
- 磁性部品・変成器
- 接続部品
- 印刷配線板
- 導波管及びフランジ
- 機構部品
- 電子管
- 半導体
- 信頼性
- 巻冊次
-
1987 ISBN 9784542120877
内容説明
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- CR複合部品・水晶振動子
- 磁性部品・変成器
- 接続部品
- 印刷配線板
- 導波管及びフランジ
- 機構部品
- 電子管
- 半導体
- オプトエレクトロニクス
- 信頼性
- 参考
- 巻冊次
-
1989 ISBN 9784542120891
内容説明
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- CR複合部品・水晶振動子
- 変成器
- 接続部品
- プリント配線板
- 導波管及びフランジ
- 機構部品
- 電子管
- 半導体
- オプトエレクトロニクス
- 信頼性
- 巻冊次
-
1991: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542126084
内容説明
目次
- 試験方法(基本;コンデンサ;抵抗器;変成器;接続部品;プリント配線板;半導体)
- オプトエレクトロニクス関係(オプトエレクトロニクス;レーザ安全;太陽電池)
- 巻冊次
-
1991: 部品編 ISBN 9784542126091
内容説明
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- 水晶振動子
- 変成器
- 接続部品
- プリント配線板
- 導波管及びフランジ
- 電子管
- 半導体
- 信頼性
- 巻冊次
-
1992: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542126473
内容説明
- 巻冊次
-
1992: 部品編 ISBN 9784542126480
内容説明
- 巻冊次
-
1995: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542127746
内容説明
目次
- 試験方法(基本;コンデンサ;抵抗器;変成器 ほか)
- オプトエレクトロニクス関係(光受動部品;光能動部品;光コネクタ;光複合部品 ほか)
- 巻冊次
-
1995: 部品編 ISBN 9784542127753
内容説明
- 巻冊次
-
1996: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542128156
内容説明
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- 変成器
- 接続部品
- プリント配線板
- 半導体
- 光受動部品
- 光能動部品
- 光コネクタ〔ほか〕
- 巻冊次
-
1996: 部品編 ISBN 9784542128163
内容説明
目次
- 本
- コンデンサ
- 抵抗器
- 水晶振動子
- 変成器
- 接続部品
- プリント配線板
- 半導体
- 信頼性
- 参考
- 巻冊次
-
1999: 試験方法・オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542129467
内容説明
目次
- 試験方法(環境試験;電子部品;接続部品;プリント配線板;半導体)
- オプトエレクトロニクス関係(光受動部品;光能動部品;光コネクタ;光複合部品;光ファイバ;光測定器;光ファイバ増幅器;レーザ安全;太陽電池)
- 巻冊次
-
2001 1: 試験編 ISBN 9784542170216
内容説明
目次
- 環境試験
- 電子部品
- 接続部品
- プリント配線板
- 半導体
- 巻冊次
-
2001 2: オプトエレクトロニクス編 ISBN 9784542170223
内容説明
目次
- 光受動部品
- 光能動部品
- 光コネクタ
- 光複合部品
- 光ファイバ
- 光測定器
- 光ファイバ増幅器
- OCR
- 光ディスク
- レーザ安全
- 太陽電池
- 巻冊次
-
2001 3: 部品編 ISBN 9784542170230
内容説明
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- 水晶振動子
- 変成器
- 接続部品
- プリント配線板
- 半導体
- 巻冊次
-
2003 1: 試験 ISBN 9784542171619
目次
- 環境試験
- 電子部品
- 接続部品
- プリント配線板
- 半導体部品
- 参考
- 巻冊次
-
2003 2: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542171626
目次
- 光受動部品
- 光能動部品
- 光コネクタ
- 光複合部品
- 光ファイバ
- 光測定器
- 光ファイバ増幅器
- OCR
- 光ディスク
- レーザ安全
- 太陽電池
- 参考
- 巻冊次
-
2003 3: 部品 ISBN 9784542171633
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- 水晶振動子
- 変成器
- 接続部品
- プリント配線板
- 半導体部品
- 参考
- 巻冊次
-
2007 1: 試験 ISBN 9784542175051
目次
- 環境試験
- 環境条件の分類
- 耐火性試験
- 静電気試験
- 参考
- 巻冊次
-
2007 2-1: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542175068
目次
- 光受動部品
- 光能動部品
- 光コネクタ
- 光複合部品
- 光ファイバ
- 光測定器
- 光増幅器
- 参考
- 巻冊次
-
2007 3-1: 部品 ISBN 9784542175075
目次
- 基本
- コンデンサ
- 抵抗器
- 水晶振動子
- 変成器・インダクタ
- 参考
- 巻冊次
-
2007 2-2: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542175730
目次
- OCR
- 光ディスク
- レーザ安全
- 太陽電池
- 参考
- 巻冊次
-
2007 3-2: 部品 ISBN 9784542175747
目次
- 電子部品
- 接続部品
- プリント配線板
- 実装技術
- 半導体
- 参考
- 巻冊次
-
2014 1: 試験 ISBN 9784542182240
目次
- 環境試験
- 環境条件
- 耐火性試験
- 静電気試験
- 参考
- 巻冊次
-
2015 1: 試験 ISBN 9784542183209
目次
- 環境試験
- 環境条件
- 耐火性試験
- 静電気試験
- 参考
- 巻冊次
-
2015 2-1: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542183216
目次
- 光受動部品及び光コネクタ試験方法
- 光受動部品
- 光コネクタ
- 光能動部品
- 光複合部品
- 参考
- 巻冊次
-
2015 2-2: オプトエレクトロニクス ISBN 9784542183223
目次
- 光増幅器
- 光ファイバ
- 光ファイバ通信サブシステム
- 光測定器
- レーザ安全
- 参考
「BOOKデータベース」 より