新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

書誌事項

新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

竹谷誠著

早稲田大学出版部, 1991.4

タイトル別名

新テスト理論 : 教育情報の構造分析

タイトル読み

シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ

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注記

参考文献: p301-309

内容説明・目次

目次

  • 1 教育情報の構造分析(教育情報の構造分析とは;質的な教育データの測度)
  • 2 生徒の認知・理解の構造分析—形成的テスト・到達度テストの分析評価(S‐P表分析法の基本的特性と利用法;S‐P表の数理論的分析と解釈;IRS分析法の基本的特性と活用法;IRSグラフの数理論的分析と解釈)
  • 3 生徒の態度・心理の構造分析(SS分析の基本的特性と活用法;ソシオメトリ分析の基本的特性と活用法)

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BN06351080
  • ISBN
    • 4657914162
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    xvii, 313p
  • 大きさ
    22cm
  • 分類
  • 件名
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